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5G引領(lǐng)半導(dǎo)體市場(chǎng)新浪潮 NI軟件定義的平臺(tái)為測(cè)試保駕護(hù)航


  來(lái)源: 美國(guó)國(guó)家儀器NI公司 時(shí)間:2019-12-30 編輯:清風(fēng)
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5G被認(rèn)為是半導(dǎo)體行業(yè)的下一個(gè)風(fēng)口,5G使得物聯(lián)網(wǎng)和通信結(jié)合,促進(jìn)智能網(wǎng)聯(lián)汽車、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)、智能家居等細(xì)分應(yīng)用快速落地。與這些美好暢想同時(shí)到來(lái)的還有技術(shù)挑戰(zhàn),尤其是毫米波和大規(guī)模天線技術(shù)的引入讓測(cè)試更加復(fù)雜。面對(duì)新興技術(shù)的挑戰(zhàn),保持高研發(fā)投入和持續(xù)創(chuàng)新是一個(gè)科技公司維持行業(yè)競(jìng)爭(zhēng)力的殺手锏。


測(cè)試測(cè)量行業(yè)引領(lǐng)者美國(guó)國(guó)家儀器NI公司每年將營(yíng)收的19%用于研發(fā),積極與客戶一起攻關(guān)前沿研究,并不斷根據(jù)市場(chǎng)需求及時(shí)推出新品。在市場(chǎng)需求瞬息萬(wàn)變的2019年,NI推出了一系列重磅新品:LabVIEW NXG 4.0、FlexLogger更新版、Systemlink更新版、新型無(wú)線監(jiān)測(cè)設(shè)備等,在半導(dǎo)體領(lǐng)域,NI重磅推出了用于5G測(cè)試的mmWave VST、STS系統(tǒng)更新版,以NI軟件定義的平臺(tái)為基礎(chǔ),NI正以源源不斷的創(chuàng)新力推動(dòng)著整個(gè)半導(dǎo)體行業(yè)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展。


圖1:NI平臺(tái)以軟件為中心,結(jié)合模塊化硬件和龐大的生態(tài)系統(tǒng)


新興的技術(shù)趨勢(shì)正在打破傳統(tǒng)的測(cè)試方法,帶來(lái)前所未有的復(fù)雜挑戰(zhàn),這將促進(jìn)測(cè)試測(cè)量行業(yè)從根本上轉(zhuǎn)變自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)量方法,NI軟件定義的平臺(tái)性解決方案,其“靈活性”日益重要。


毫米波未來(lái)發(fā)展前景廣闊,NI推出測(cè)試方案——mmWave VST


從5G整體部署來(lái)看,Sub-6GHz應(yīng)與毫米波相結(jié)合才能最大限度發(fā)揮5G潛能。Sub-6GHz頻段部署可實(shí)現(xiàn)5G的廣覆蓋,毫米波部署則能提供更高速率、更佳性能的5G連接。Sub-6GHz的商業(yè)部署較早,未來(lái)一段時(shí)間的重點(diǎn)是毫米波頻段部署。要抓住從現(xiàn)在到毫米波5G商用這個(gè)“窗口期”,構(gòu)建良好的5G毫米波合作生態(tài)體系,保證射頻器件的供應(yīng),也要解決從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)整個(gè)環(huán)節(jié)的測(cè)試測(cè)量的技術(shù)挑戰(zhàn),為產(chǎn)品提供安全保障。


為解決5G毫米波RFIC收發(fā)儀和功率放大器帶來(lái)的測(cè)試挑戰(zhàn),NI推出毫米波矢量信號(hào)收發(fā)儀(mmWave VST)。mmWave VST能夠覆蓋44GHz頻段,提供1G的實(shí)時(shí)帶寬,支持未來(lái)在數(shù)字預(yù)失真上面的測(cè)試需求,或是在各種載波聚合上面可能性的測(cè)試需求。還可以通過(guò)前端的開(kāi)關(guān)網(wǎng)絡(luò),將端口數(shù)量擴(kuò)展到8個(gè)、16個(gè)。針對(duì)各種波束形成器所需要的射頻進(jìn)、射頻出,或者是中頻進(jìn)、射頻出,諸如此類的配置都能夠通過(guò)彈性的VST的配置來(lái)支持實(shí)現(xiàn)測(cè)試。


NI表示:“除了實(shí)驗(yàn)室中現(xiàn)有的基于PXI的表征系統(tǒng)外,該儀器本身可以集成到NI半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)中,從而在批量生產(chǎn)產(chǎn)線上進(jìn)行部署。選擇基于模塊化PXI平臺(tái)的測(cè)試儀可幫助采用STS的工程師將新的測(cè)量功能(如5G)快速集成到測(cè)試單元中,從而提高成本效益并降低推遲上市時(shí)間帶來(lái)的風(fēng)險(xiǎn)。”


關(guān)鍵詞:NI 測(cè)試 半導(dǎo)體    瀏覽量:910

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