作者在論文中提到，類似供體的邊界陷阱也會影響背照式CMOS圖像傳感器的長期性能。TDDB和NBTI是對器件壽命的評估方式。與預期相同，邊界陷阱對兩種評估方式的作用不同，但是無論如何，相對前照式CMOS圖像傳感器，背照式CMOS圖像傳感器可靠性都會下降。
作者在論文中提到，類似供體的邊界陷阱也會影響背照式CMOS圖像傳感器的長期性能。TDDB和NBTI是對器件壽命的評估方式。與預期相同，邊界陷阱對兩種評估方式的作用不同，但是無論如何，相對前照式CMOS圖像傳感器，背照式CMOS圖像傳感器可靠性都會下降。
關鍵詞:CMOS圖像傳感器 FSI BSI 優(yōu)劣 瀏覽量：1474
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