使用PXI信號(hào)分析儀測量IMD和TOI

互調(diào)失真（IMD）和三階截點(diǎn)（TOI）是NI-RFSA軟件前面板（SFP）的內(nèi)置測量功能。進(jìn)行這些測量時(shí)，可以將信號(hào)分析儀的頻率設(shè)置為以兩個(gè)基音為中心頻率，以確?？梢钥匆姼哂诒镜卦肼暤娜A失真產(chǎn)物。在NI-RFSA SFP上選擇檢測音，生成測量結(jié)果。NI-RFSA SFP會(huì)自動(dòng)識(shí)別基音的功率差以及三階失真產(chǎn)物的功率差，并顯示正確的測量結(jié)果。有關(guān)PXI RF信號(hào)分析儀的更多信息，請?jiān)L問ni.com/rf/test。

基音信號(hào)功率每增加1 dB，三階失真產(chǎn)物功率增加3 dB

實(shí)際上，IP3/TOI是計(jì)算所得而非測量所得的結(jié)果。一階產(chǎn)物和三階產(chǎn)物之間的功率增加比是3:1，利用以下公式可以計(jì)算出IP3。

TOI是衡量射頻前端性能的重要指標(biāo)，因?yàn)镮MD比率取決于功率電平。TOI的測量將IMD性能的要素與功率電平相結(jié)合，并通過一個(gè)數(shù)字來表示性能。  

IMD測量配置

根據(jù)IMD測量理論，執(zhí)行該測量需要雙音激勵(lì)信號(hào)。在大多數(shù)應(yīng)用中，配置雙音激勵(lì)信號(hào)的  方法是將RF信號(hào)發(fā)生器連接至RF功率組合器，如圖13 所示。

IMD測量需要連接至功率組合器的兩個(gè)信號(hào)產(chǎn)生器

由于IMD是一種常見的測量方式，許多RF信號(hào)分析儀具有內(nèi)置測量功能來測量IMD或IMD/TOI。事實(shí)上，NI-RFSA SFP可以自動(dòng)檢測基音和三階失真產(chǎn)物，并計(jì)算出IMD比。