電腦現(xiàn)在已經(jīng)是我們生活、工作中必不可少的工具，而電源作為電腦的關(guān)鍵部件，不僅僅在性能上要符合相關(guān)的規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)，而且它的負(fù)載能力、可靠性以及對(duì)于主板以及外設(shè)的兼容性都對(duì)整機(jī)系統(tǒng)的可靠穩(wěn)定運(yùn)行有很大的影響。
在電腦電源的眾多測(cè)試項(xiàng)目中，時(shí)序特性測(cè)試以及動(dòng)態(tài)測(cè)試這2項(xiàng)關(guān)鍵測(cè)試都需要有一臺(tái)功能強(qiáng)大，測(cè)試精度高的電子負(fù)載。本文主要介紹艾德克斯IT8700系列多路輸入直流電子負(fù)載對(duì)PC電源的測(cè)試應(yīng)用。
時(shí)序特性測(cè)試
PC電源不僅輸出電壓，還要與主板有信號(hào)聯(lián)系，兩者在時(shí)間次序上有一定的關(guān)系，這就叫做時(shí)序，時(shí)序是電源與主板良好配合的重要條件，也是導(dǎo)致電腦無(wú)法正常開(kāi)關(guān)機(jī)以及電源與主板不兼容問(wèn)題的最常見(jiàn)原因。
時(shí)序中最重要的是電源輸出電壓與P.G信號(hào)和PS-ON#信號(hào)之間的關(guān)系。P.G信號(hào)由電源控制，代表電源是否已經(jīng)準(zhǔn)備好，PS_ON#信號(hào)則由主板控制，表示是否要開(kāi)機(jī)。PC電源的電壓必須依一定時(shí)序要求響應(yīng)輸出電腦主板（如CPU、硬盤(pán)等器件），才能處理信息，如下圖：
對(duì)應(yīng)的時(shí)序要求如下：
測(cè)試方法如下：
1.啟動(dòng)時(shí)間：要求T1 ＜500mS，滿載，正常供電電壓，以PS/ON作開(kāi)機(jī)，+12V、+5V&+3.3V上升到95%標(biāo)稱值的時(shí)間為T1。
2. +5V、+12V和+3.3V上升沿時(shí)間：要求0.1mS≤T2≤20 mS，以PS/ON作開(kāi)機(jī)，分別在供電電壓下限、正常和上限各測(cè)一次，取最差的一次。
3. P.G延時(shí)：要求100mS＜ T3＜500mS，滿載低壓和正常電壓各測(cè)量一次，以PS/ON作為開(kāi)/關(guān)機(jī)。
4. P.G維持時(shí)間：要求T5 ≥16mS，滿載，正常供電電壓，關(guān)斷AC供電測(cè)量。
5.P.G跌落警告時(shí)間：要求T6≥1mS，滿載，正常供電電壓，關(guān)斷AC和PS/ON，各測(cè)量一次。
注：上升沿、下降沿時(shí)間，均是指標(biāo)稱值10%～95%區(qū)間的時(shí)間。
在進(jìn)行以上時(shí)序測(cè)試時(shí)，由于IT8700系列特有的同步拉載功能，很好的控制負(fù)載的同步拉載（同步時(shí)間可達(dá)到小于10us），同時(shí)配合該系列內(nèi)置的GPIB通訊接口可以實(shí)現(xiàn)同步拉載的輸出。
在實(shí)際測(cè)試時(shí)由于測(cè)試線存在阻抗，會(huì)產(chǎn)生壓降。IT8700 系列為了保證測(cè)量精度，自帶遠(yuǎn)端量測(cè)功能，用戶可以用該端子來(lái)測(cè)量被測(cè)儀器的輸出端子電壓，用遠(yuǎn)端量測(cè)接線法來(lái)補(bǔ)償線上壓降，可以大大提高測(cè)量的精度。
動(dòng)態(tài)測(cè)試
實(shí)際上一個(gè)定電壓輸出的電源，于設(shè)計(jì)中具備反饋控制回路，能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實(shí)際上反饋控制回路有一定的頻寬，因此限制了電源供應(yīng)器對(duì)負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移與增益為1 時(shí)，超過(guò)180度，則電源供應(yīng)器之輸出便會(huì)呈現(xiàn)不穩(wěn)定，失控或震蕩等現(xiàn)象。電腦在工作時(shí)，電流是動(dòng)態(tài)變化的，而不是始終維持不變的，因此動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試對(duì)PC電源是極其重要的。
可編程電子負(fù)載可用來(lái)模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)最?lèi)毫拥呢?fù)載情況，如負(fù)載電流迅速上升，下降之斜率，周期等。 IT8700系列高達(dá)25KHZ的動(dòng)態(tài)模式，可仿真電腦各不同運(yùn)行狀態(tài)下電流的變化，以對(duì)電源的動(dòng)態(tài)特性進(jìn)行測(cè)試。
