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  • 大幅提升LED芯片與封裝測試效率的良方

    因應(yīng)全球 LED 市場發(fā)展,芯片與封裝測試大躍進(jìn):以大量同步測試取代單一手動測試根據(jù) TrendForce《2021 全球 LED 照明市場報告- 照明級封裝與照明產(chǎn)品趨勢(1H21...

    來源 : 艾普斯電源 | 2021-08-02 10:41
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  • 熱像儀對LED芯片檢測的過程和系統(tǒng)解決方案

    溫度是LED芯片的核心技術(shù)指標(biāo),其代表著LED器件的設(shè)計水平,發(fā)熱和散熱情況直接影響LED產(chǎn)品的壽命和顏色質(zhì)量,但由于LED芯片非常之小,傳統(tǒng)檢測方式無法進(jìn)行測溫...

    來源 : 儀商網(wǎng) | 2018-08-21 15:57
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  • 針對LED芯片常遇到的6大問題的解決方案

    正向壓降低的芯片在固定電壓測試時,通過芯片的電流小,從而表現(xiàn)暗點,還有一種暗光現(xiàn)象是芯片本身發(fā)光效率低,正向壓降正常。另外封裝過程中也可能造成正向壓降...

    來源 : 電子工程世界 | 2018-08-02 16:56
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