根據(jù)上面RCS測(cè)試的簡(jiǎn)單流程可以看出，由于RCS測(cè)試是利用空間電磁輻射并測(cè)量目標(biāo)回波的方式來實(shí)現(xiàn)的，是開環(huán)測(cè)試方式，因此測(cè)試場(chǎng)地的環(huán)境特征將不可避免的反映在接收回波信號(hào)中。具體到測(cè)試場(chǎng)地中，如圖2所示（以典型室內(nèi)緊縮場(chǎng)為例），回波信號(hào)將包括：收發(fā)天線之間的直接耦合，反射面的反射信號(hào)直接到達(dá)接收天線部分、反射面反射信號(hào)經(jīng)饋源再反射的多次反射情況、目標(biāo)回波、后墻反射等多個(gè)反射信號(hào)。

對(duì)于低RCS值目標(biāo)的測(cè)試，由于目標(biāo)的回波信號(hào)本來就很小，因此測(cè)試場(chǎng)地中存在的各種干擾信號(hào)將有可能比目標(biāo)回波信號(hào)還要大，這些干擾信號(hào)使得目標(biāo)回波的信噪比顯著惡化，如圖3中所示，隨著信噪比的變差，測(cè)量誤差也隨之增加；信噪比越大，對(duì)應(yīng)的測(cè)量誤差就越小。因此，對(duì)于小RCS值目標(biāo)來說，必須要考慮各種減輕或消除干擾的辦法。

3  RCS測(cè)試中硬件門應(yīng)用原理

為了消除RCS測(cè)試過程中各種路徑干擾，目前新推出的RCS測(cè)試系統(tǒng)中普遍采用了脈沖RCS測(cè)試技術(shù)，其測(cè)試原理如圖4所示。對(duì)比圖1和圖4可以看出，系統(tǒng)硬件上的主要區(qū)別是增加了多通道脈沖發(fā)生器和窄脈沖調(diào)制器（門控開關(guān)），這些硬件共同構(gòu)成了硬件門電路。利用這些硬件，系統(tǒng)就可以由連續(xù)波測(cè)試系統(tǒng)轉(zhuǎn)變?yōu)槊}沖測(cè)試系統(tǒng)。