結(jié)語
IC技術的發(fā)展，一方面提供了大量的功能強大的芯片供系統(tǒng)設計者選用，目前高性價比的DSP芯片不僅迎合了當今數(shù)字化浪潮，同時為設計者提供了多種低成本的選擇；另一方面，大量新型芯片的出現(xiàn)，給芯片測試帶來了新的挑戰(zhàn)，作為電子產(chǎn)品數(shù)字化核心之一的混合信號芯片成為芯片測試領域的一個新的熱點。本文針對國內(nèi)測試設備制造業(yè)的現(xiàn)實情況，提出了一種混合信號測試的低成本解決方案，本文方案充分利用現(xiàn)有條件，遵循標準化和模塊化的設計思路，解決了多種頻帶的混合信號測試問題，是國內(nèi)現(xiàn)實情況下測試設備制造業(yè)的一個探索，相信會隨著新技術的出現(xiàn)不斷發(fā)展和完善。
關鍵詞:芯片 處理器 測試 瀏覽量：5409
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