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微波功率半導(dǎo)體芯片在片設(shè)計測試解決方案

基于3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀平臺,提供全國快速響應(yīng)技術(shù)支持與服務(wù)


  來源: 中電儀器 時間:2019-08-08 編輯:伊敏
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自研探針

 

可擴(kuò)展至500GHz

 

全國快速響應(yīng)的技術(shù)服務(wù)與支持

采購方式靈活,支持整套系統(tǒng)采購和在原有設(shè)備基礎(chǔ)上集成升級。

可進(jìn)行快速技術(shù)支持響應(yīng)。

 

功能

增益及常規(guī)S參數(shù)測試功能;

二維增益壓縮快速測試功能;

有源互調(diào)快速測試功能;

脈沖S參數(shù)一體化測試功能;

八通道頻譜模式快速測試功能;

無源負(fù)載牽引測試功能;

有源負(fù)載牽引測試功能;

基于冷源法的等噪聲圓測試功能;

熱態(tài)參數(shù)測試功能;

放大器功率增益效率測試;

支持Cascade/MPI等多種探針臺;

支持主流功率半導(dǎo)體建模仿真軟件;

支持主流的行為模型,獨家發(fā)布W參數(shù)模型;

微波探針臺與探針定制;

支持功率半導(dǎo)體材料微波顯微測試;

應(yīng)用

常規(guī)功率半導(dǎo)體器件S參數(shù)測試;

功率半導(dǎo)體器件建模;

功率半導(dǎo)體管芯及芯片的在片測試;

超寬帶大功率寬禁帶半導(dǎo)體設(shè)計;

放大器的有源負(fù)載牽引測試;

THz頻段芯片及器部件的在片研究;

功率半導(dǎo)體材料的失效分析。

關(guān)鍵詞:半導(dǎo)體 測試 氮化鎵 分析儀 芯片    瀏覽量:11334

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