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微波半導體芯片測試解決方案

使用3986噪聲系數(shù)分析儀和3672矢量網絡分析儀的低噪放測試流程


  來源: 中電儀器 時間:2019-11-19 編輯:儀商清風
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(2)測試結果及分析
3986噪聲系數(shù)分析儀提供圖形、表格、測試儀三種顯示格式,可根據(jù)需求選擇對應格式。在本次試驗中,通過【格式】→[顯示格式]→[圖形]設置,查看當前測試數(shù)據(jù)的曲線圖;通過【格式】→[顯示格式]→[表格]設置,查看當前測試數(shù)據(jù)的表格數(shù)據(jù)。低噪聲放大器芯片噪聲系數(shù)、增益測試曲線和表格數(shù)據(jù)如圖6所示。


圖6 低噪聲放大器芯片噪聲系數(shù)、增益測試曲線和表格數(shù)據(jù)


已知該低噪聲放大器芯片噪聲系數(shù)典型值為1.05dB,增益為24dB。將測得的數(shù)據(jù)寫入excel制成曲線(右),與廠家提供的典型曲線(左)對比。噪聲系數(shù)測試曲線對比如圖7所示,增益測試曲線對比如圖8所示。曲線重合度較高。
 

圖7 噪聲系數(shù)測試結果與典型曲線對比


 

圖8 增益測試結果與典型曲線對比


總結
本次對低噪聲放大器的測試,可應用于低噪聲放大器芯片的生產測試環(huán)節(jié),為保證測試的準確性,需要注意以下內容:


(1)3986噪聲系數(shù)分析儀進行噪聲系數(shù)和增益的測試,測試前要先連接噪聲源進行主機校準,然后輸入損耗補償值。不推薦直接使用噪聲系數(shù)分析儀測試附件插損。
(2)3672矢量網絡分析儀用作系統(tǒng)校準,測試探針、線纜整體的S21,計算損耗補償值。因此在校準前需要充分預熱,保證校準數(shù)據(jù)可反復使用。
(3)采用標量二分的方法補償系統(tǒng)附件插損,DUT前和DUT后均等于-|S21|/2,因此需要探針和電纜具有較好的對偶一致性。


(作者:劉森  李宇陽  鄭利穎  楊保國)

關鍵詞:半導體 芯片測試 解決方案    瀏覽量:12598

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