電子器件的電源測量通常情況是指開關(guān)電源的測量（當(dāng)然還有線性電源）。講述開關(guān)電源的資料非常多，本文討論的內(nèi)容為PWM開關(guān)電源，而且僅僅是作為測試經(jīng)驗(yàn)的總結(jié)，為大家簡述容易引起系統(tǒng)失效的一些因素。因此，在閱讀本文之前，已經(jīng)假定您對于開關(guān)電源有一定的了解。

 1 開關(guān)電源簡述
       開關(guān)電源（Switching Mode Power Supply，常常簡化為SMPS），是一種高頻電能轉(zhuǎn)換裝置。其功能是將電壓透過不同形式的架構(gòu)轉(zhuǎn)換為用戶端所需求的電壓或電流。
       開關(guān)電源的拓?fù)渲搁_關(guān)電源電路的構(gòu)成形式。一般是根據(jù)輸出地線與輸入地線有無電氣隔離，分為隔離及非隔離變換器。非隔離即輸入端與輸出端相通，沒有隔離措施，常見的DC/DC變換器大多是這種類型。所謂隔離是指輸入端與輸出端在電路上不是直接聯(lián)通的，使用隔離變壓器通過電磁變換方式進(jìn)行能量傳遞，輸入端和輸出端之間是完全電氣隔離的。
       對于開關(guān)變換器來說，只有三種基本拓?fù)湫问?，即?/span>
       ● Buck（降壓）
       ● Boost（升壓）
       ● Buck-Boost（升降壓）
       三種基本拓?fù)湫问?，是電感的連接方式?jīng)Q定。若電感放置于輸出端，則為Buck拓?fù)?；電感放置于輸入端，則是Boost拓?fù)洹．?dāng)電感連接到地時，就是Buck-Boost拓?fù)洹?/span>

 2 容易引發(fā)系統(tǒng)失效的關(guān)鍵參數(shù)測試
       以下的測試項(xiàng)目除了是指在靜態(tài)負(fù)載的情況下測試的結(jié)果，只有噪聲(noise)測試需要用到動態(tài)負(fù)載。

 2.1 Phase點(diǎn)的jitter

 對于典型的PWM開關(guān)電源，如果phase點(diǎn)jitter太大，通常系統(tǒng)會不穩(wěn)定（和后面提到的相位裕量相關(guān)），對于200~500K的PWM開關(guān)電源，典型的jitter值應(yīng)該在1ns以下。

 2.2 Phase點(diǎn)的塌陷
       有時候工程師測量到下面的波形，這是典型的電感飽和的現(xiàn)象。對于經(jīng)驗(yàn)不夠豐富的工程師，往往會忽略掉。電感飽和會讓電感值急劇下降，類似于短路了，這樣會造成電流的急劇增加，MOS管往往會因?yàn)闇囟鹊募眲≡黾佣鵁龤А＿@時需要更換飽和電流更大的電感。

 2.3 Shoot through測試
       測試的目的是看上MOS管導(dǎo)通時，有沒有同時把下管打開，從而導(dǎo)致電源直接導(dǎo)通到地而引起短路。如圖三所示藍(lán)色曲線（Vgs_Lmos）就是下管在上管導(dǎo)通的同時，被帶了起來，如果藍(lán)色曲線的被帶起來的尖峰超過了MOS管的Vth要求，同時持續(xù)時間（Duration）也超過了datasheet要求，從而就會有同時導(dǎo)通的風(fēng)險。當(dāng)然，這是大家最常見到的情況。