半導(dǎo)體是什么
半導(dǎo)體是指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體和絕緣體質(zhì)檢的材料，目前，常用的半導(dǎo)體材料包括三種：硅、鍺、砷化鎵。
平時(shí)說的半導(dǎo)體，其實(shí)是指半導(dǎo)體元器件（或集成電路），也就是由半導(dǎo)體材料制造的電子元器件（或集成電路）。
半導(dǎo)體應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體在我們熟悉的集成電路、消費(fèi)電子、通信系統(tǒng)、光伏發(fā)電、照明、汽車電子、大功率電源轉(zhuǎn)換等領(lǐng)域都有應(yīng)用，而日置HIOKI的測試儀器如功率分析儀、記錄儀、數(shù)采、電池測試儀、LCR、阻抗測試儀等也在這些領(lǐng)域擔(dān)任著重要的測試任務(wù)。
日置HIOKI在半導(dǎo)體C-V測試上應(yīng)用
那么日置產(chǎn)品在半導(dǎo)體元器件（或集成電路）測試中的應(yīng)用有哪些呢？以晶圓級MOSFET為例，晶圓電容-電壓（C-V）特性曲線測試是半導(dǎo)體參數(shù)測試中的比較關(guān)注的一部分，CV頻率范圍根據(jù)不同的器件有1Hz-100Hz、10Hz-10KHz、10KHz-1MHz或者更高頻段，通過上位機(jī)軟件在固定頻段下以0.1V或者0.5V的步進(jìn)掃描電壓測試C值，電壓范圍有-5V~+5V、
-10V~+10V、-20V~+20V、-30V~
+30V、-40V~+40V或者更高。（支持第三方軟件控制）
通過C-V測量還可以對其他類型半導(dǎo)體器件和工藝進(jìn)行特征分析，如：BJT晶體管，二極管與PN結(jié)，III-V族化合物，二維材料，金屬材料，光子檢測器件，鈣鈦礦與太陽能電池，LED與薄膜晶體管，非易失性存儲器與材料，MEMS與傳感器，分子與納米器件，半導(dǎo)體器件特性分析與建模，器件噪聲特性分析以及檢測工藝參數(shù)和失效分析機(jī)制等。
擴(kuò)展應(yīng)用
半導(dǎo)參數(shù)測試中除了CV電容電壓特性曲線測試，還有IV電流電壓特性曲線測試，可以將LCR測試儀IM3536搭配皮安表SM7110以及其他測試儀器進(jìn)行系統(tǒng)集成。
劃重點(diǎn)
產(chǎn)品介紹
01、低頻阻抗分析儀IM3590
用于測試器件、材料等
● 針對DC以及1mHz~200kHz范圍內(nèi)的頻率帶寬可設(shè)置5位的分辨率（100Hz不到是1mHz分辨率）。能夠進(jìn)行共振頻率的測量和在接近工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測量、評估。
● 測量頻率1kHz，測量速度FAST時(shí)，可達(dá)最快2ms。有助于掃頻高速化。
● Z的基本精度是±0.05%。從零部件檢查到研究開發(fā)的測量，都能達(dá)到推薦精度。
02、LCR測試儀IM3536
直流偏置電壓高達(dá)±500V
● 測量頻率DC，4Hz~8MHz
● 測量時(shí)間：最快1ms
● 基本精度：±0.05% rdg.
● mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
03、高頻阻抗分析儀IM7587
可穩(wěn)定測量高達(dá)3GHz的阻抗
● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz
● 測量時(shí)間：最快0.5ms（模擬測量時(shí)間）
● 測量值偏差：0.07%（用3GHz測量線圈1nH時(shí)）
