（6）跡線噪聲小，動態(tài)范圍大

6433系列光波元件分析儀采用混頻接收的設計理念，使用高精度和響應平坦的核心器件，結(jié)合通過設定不同中頻帶寬和平均，可獲得更大的動態(tài)測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結(jié)果的更多細節(jié)，滿足用戶對大動態(tài)范圍、高精度的測試需求。

圖9跡線噪聲和動態(tài)范圍示意圖

（7）夾具數(shù)據(jù)自動移除

6433系列光波元件分析儀通過光路去嵌入和射頻去嵌入可將接入測試鏈路中的夾具進行自動移除。

當測試鏈路中引入電夾具或光夾具時，用戶可選中射頻去嵌入、光路去嵌入的使能狀態(tài)，導入夾具參數(shù)文件，進行自動夾具數(shù)據(jù)移除，提升測量精度。尤其在片測試時所需的探針誤差移除時，使得測量更加靈活，滿足用戶不同場合的測量需求。

圖10 在片測試示意圖

（8）多功能工具箱

6433系列光波元件分析儀內(nèi)置大動態(tài)范圍光功率計，可實時監(jiān)測輸入光功率數(shù)值，通過高級設置，可將光發(fā)射模塊設定為保偏激光源輸出模式（CW）模式，消光比大于20dB，為MZ型LiNiO3調(diào)制器提供所需的保偏光源。測試不僅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1630nm的外部光源輸入，覆蓋更寬的通信波長，滿足CWDM、DWDM系統(tǒng)核心器件測量需求。

圖11 多功能工具箱