除非半導(dǎo)體測試系統(tǒng)的空間(PXI插槽)十分寶貴,否則多位點(diǎn)測試系統(tǒng)在設(shè)計(jì)時(shí)還是應(yīng)該為每個(gè)DUT測試位點(diǎn)提供一個(gè)數(shù)字域。雖然硬件的前期成本會(huì)很高,但這會(huì)在后期測試過程中帶來巨大的回報(bào)。這保證了盡可能快的測試時(shí)間并簡化了測試編程,在多位點(diǎn)數(shù)字測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中,這些功能是至關(guān)重要的。