3.檢驗(yàn)面的要求
探測(cè)面的粗糙度也是影響耦合損耗的因素。圖2為使用不同聲阻抗耦合劑時(shí),工件表面粗糙度對(duì)回波高度的影響,橫坐標(biāo)為表面粗糙度的平均高度Rz,它決定了耦合層的厚度,即d=Rz。
探測(cè)面的粗糙度也是影響耦合損耗的因素。圖2為使用不同聲阻抗耦合劑時(shí),工件表面粗糙度對(duì)回波高度的影響,橫坐標(biāo)為表面粗糙度的平均高度Rz,它決定了耦合層的厚度,即d=Rz。

圖2 表面粗糙度、耦合劑聲阻抗對(duì)耦合損耗的影響