圖3中，將待測讀寫器分別安裝在生產(chǎn)線的四個工位，通過螺母螺絲調(diào)讀寫器托盤高度，達到讀寫器讀寫檢測距離。將超高頻電子標(biāo)簽安裝在傳送底座上，當(dāng)工具通過讀寫器所在位置時，讀寫器以應(yīng)答模式讀取工件相關(guān)信息。
1.3 測試數(shù)據(jù)的采集
為了自動采集生產(chǎn)線上的讀卡器讀取工件數(shù)量，開發(fā)了一套數(shù)據(jù)采集軟件，其軟件開發(fā)流程圖如圖4所示。該軟件按照功能可以劃分成3部分：應(yīng)用程序接口部分、讀寫器控制部分和數(shù)據(jù)處理部分。讀寫器控制部分主要包括控制射頻模塊、參數(shù)配置模塊和協(xié)議處理模塊[10].根據(jù)圖4，采用C#語言開發(fā)出軟件界面如圖5所示。按下啟動按鈕，數(shù)據(jù)采集軟件動態(tài)采集標(biāo)簽ID號、到達工位數(shù)、到達時間及漏讀率。圖5所示為數(shù)據(jù)采集軟件測試的部分數(shù)據(jù)。按下停止按鈕，數(shù)據(jù)采集軟件將測試數(shù)據(jù)保存到上位機。圖5中漏讀率由式（1）計算：
啟動生產(chǎn)線，運行平臺，對數(shù)據(jù)進行采集。選取工位二和三的讀寫器進行分析，作出其漏讀率變化曲線，如圖6所示。
由圖6看出，兩讀寫器的漏讀率變化情況截然不同，其近似分布特性公式見圖7所示。
讀寫器二的漏讀率總體較低，但是隨著使用次數(shù)的增加，漏讀率整體呈現(xiàn)增大的趨勢，說明讀寫器本身性能（包括抗環(huán)境干擾能力）較差，不適于應(yīng)用在精度要求高的場景。而讀寫器三恰好與讀寫器二情況相反，漏讀率呈現(xiàn)遞減的狀態(tài)，但從變化曲線看得出其工作性能也不穩(wěn)定。所以，對于這兩臺讀寫器需要對其內(nèi)部影響其讀寫效率的參數(shù)進行優(yōu)化，提高工作性能。
本文在現(xiàn)有物流分揀、混合生產(chǎn)智能制造生產(chǎn)線上，測試出了在實際生產(chǎn)線環(huán)境對RRU9806SR超高頻臺面式讀寫器漏讀率。首先，在現(xiàn)有智能制造生產(chǎn)線上搭建了測試讀寫器硬件平臺，接著開發(fā)了數(shù)據(jù)采集軟件采集實際生產(chǎn)線上安裝的標(biāo)簽數(shù)據(jù)，并計算出了漏讀率。最后在Matlab軟件中求出了漏讀率的分布圖并求出了漏讀率均方根值。所求漏讀率即為讀寫器漏讀率。求得了漏讀率的分布圖并求出了漏讀率的分布特性表達式。
此測試方案簡單易用，對讀寫器性能進行漏讀率的分析，不需要花費較多的人力物力以及資金投資便可以檢測讀寫器的一般性能，對工業(yè)級讀寫器在復(fù)雜環(huán)境應(yīng)用方案和產(chǎn)品檢測方面有借鑒作用。從測試的過程也可反映出RFID讀寫器以及電子標(biāo)簽對于現(xiàn)代各個行業(yè)都有很大的實用價值，而超高頻讀寫器也將因其各種優(yōu)勢更加廣泛的應(yīng)用于各個行業(yè)。在本論文的基礎(chǔ)上，后續(xù)研究工作將提出具體的改善方案來降低漏讀率，對該讀寫器內(nèi)部影響其性能的具體參數(shù)進行測試并優(yōu)化，使其更好的用在實際環(huán)境中。
1.3 測試數(shù)據(jù)的采集
為了自動采集生產(chǎn)線上的讀卡器讀取工件數(shù)量，開發(fā)了一套數(shù)據(jù)采集軟件，其軟件開發(fā)流程圖如圖4所示。該軟件按照功能可以劃分成3部分：應(yīng)用程序接口部分、讀寫器控制部分和數(shù)據(jù)處理部分。讀寫器控制部分主要包括控制射頻模塊、參數(shù)配置模塊和協(xié)議處理模塊[10].根據(jù)圖4，采用C#語言開發(fā)出軟件界面如圖5所示。按下啟動按鈕，數(shù)據(jù)采集軟件動態(tài)采集標(biāo)簽ID號、到達工位數(shù)、到達時間及漏讀率。圖5所示為數(shù)據(jù)采集軟件測試的部分數(shù)據(jù)。按下停止按鈕，數(shù)據(jù)采集軟件將測試數(shù)據(jù)保存到上位機。圖5中漏讀率由式（1）計算：
漏讀率= （總到位數(shù)-總讀取數(shù)）/總到位數(shù)（1）
圖4 測試系統(tǒng)劃分
圖5 數(shù)據(jù)采集軟件界面
2、實驗結(jié)果及分析啟動生產(chǎn)線，運行平臺，對數(shù)據(jù)進行采集。選取工位二和三的讀寫器進行分析，作出其漏讀率變化曲線，如圖6所示。
由圖6看出，兩讀寫器的漏讀率變化情況截然不同，其近似分布特性公式見圖7所示。
讀寫器二的漏讀率總體較低，但是隨著使用次數(shù)的增加，漏讀率整體呈現(xiàn)增大的趨勢，說明讀寫器本身性能（包括抗環(huán)境干擾能力）較差，不適于應(yīng)用在精度要求高的場景。而讀寫器三恰好與讀寫器二情況相反，漏讀率呈現(xiàn)遞減的狀態(tài)，但從變化曲線看得出其工作性能也不穩(wěn)定。所以，對于這兩臺讀寫器需要對其內(nèi)部影響其讀寫效率的參數(shù)進行優(yōu)化，提高工作性能。
圖6 漏讀率曲線圖
圖7 近似分布特性公式
3、結(jié)論本文在現(xiàn)有物流分揀、混合生產(chǎn)智能制造生產(chǎn)線上，測試出了在實際生產(chǎn)線環(huán)境對RRU9806SR超高頻臺面式讀寫器漏讀率。首先，在現(xiàn)有智能制造生產(chǎn)線上搭建了測試讀寫器硬件平臺，接著開發(fā)了數(shù)據(jù)采集軟件采集實際生產(chǎn)線上安裝的標(biāo)簽數(shù)據(jù)，并計算出了漏讀率。最后在Matlab軟件中求出了漏讀率的分布圖并求出了漏讀率均方根值。所求漏讀率即為讀寫器漏讀率。求得了漏讀率的分布圖并求出了漏讀率的分布特性表達式。
此測試方案簡單易用，對讀寫器性能進行漏讀率的分析，不需要花費較多的人力物力以及資金投資便可以檢測讀寫器的一般性能，對工業(yè)級讀寫器在復(fù)雜環(huán)境應(yīng)用方案和產(chǎn)品檢測方面有借鑒作用。從測試的過程也可反映出RFID讀寫器以及電子標(biāo)簽對于現(xiàn)代各個行業(yè)都有很大的實用價值，而超高頻讀寫器也將因其各種優(yōu)勢更加廣泛的應(yīng)用于各個行業(yè)。在本論文的基礎(chǔ)上，后續(xù)研究工作將提出具體的改善方案來降低漏讀率，對該讀寫器內(nèi)部影響其性能的具體參數(shù)進行測試并優(yōu)化，使其更好的用在實際環(huán)境中。
