作為一種用于測(cè)量平面型工件的二維測(cè)量系統(tǒng)，Planar系統(tǒng)可以替代更為常規(guī)的光學(xué)或基于相機(jī)的測(cè)量系統(tǒng)。此外，該系統(tǒng)還能夠完成其它一些工作，例如將打印的CAD圖紙轉(zhuǎn)換為DXF電子文檔、測(cè)量彎管、利用激光創(chuàng)建工件的三維模型等。系統(tǒng)采用激光三角法測(cè)量位置點(diǎn)的誤差，從而能夠測(cè)量物體任意部位的高度，包括那些用量規(guī)和卡尺無(wú)法測(cè)量的部位。
關(guān)鍵詞:檢測(cè)儀器 光學(xué)投影 測(cè)量 瀏覽量：1272
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