一、半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備概述測(cè)試設(shè)備按照應(yīng)用產(chǎn)線的不同可以分為晶圓測(cè)試(中測(cè))和終端測(cè)試(終測(cè)),晶圓測(cè)試是在晶圓制造廠出廠前做的整個(gè)晶圓狀態(tài)下的測(cè)試,終端...
探針臺(tái)(Probe Station) 探針臺(tái)是半導(dǎo)體(包括集成電路、分立器件、光電器件、傳感器)行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一,其廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量,旨...