隨著半導體、新能源系統、材料特性研究等領域對高可靠性測試設備的需求日益增長，鼎陽科技推出了ODP6000B系列光隔離電壓探頭，以及SAP1000H、DPB6150系列和SDP6150系列高壓差分探頭。ODP6000B系列光隔離電壓探頭可為高壓浮地信號、第三代半導體功率器件以及新能源逆變器等測試提供可靠的解決方案。而SAP1000H、DPB6150系列和SDP6150系列高壓差分探頭具有極佳的動態(tài)范圍和共模噪聲抑制能力，可廣泛應用于開關電源﹑變頻器和其它電氣功率裝置測試中。

1、ODP6000B系列光隔離電壓探頭

高帶寬

光隔離探頭帶寬500MHz、1GHz，采用了先進的光纖傳輸技術，通過電-光-電的轉換，實現了信號輸入和輸出的完全電氣隔離，具有超高共模抑制比。極其適用于開關電源﹑電機驅動器、新能源逆變器、變頻器的測試，尤其在第三代半導體如氮化鎵（GaN）和碳化硅（SiC）等高頻電路測試中，ODP6000B可以近乎完美地抑制其高頻共模噪聲，提供精確的測量結果。

高性能

與傳統的探頭相比，光隔離探頭具有更高的共模抑制比和隔離電壓。在測試低頻直流信號時。共模抑制比高達160dB，即使在1GHz的高頻信號測試中，也能保持70dB的共模抑制比，無論在低頻段和高頻段都能有效的抑制共模干擾。同時，光隔離探頭提供了高達±60kV的隔離電壓，能夠在高壓浮地信號測試中實現電氣隔離，防止高壓或危險電路對工程師和測試儀器造成危害。

寬范圍

在測試高電壓或高功率電路時，ODP6000B系列光隔離探頭通過搭配不同的衰減器，能夠在不犧牲信噪比的前提下，測試從毫伏到千伏的寬范圍電壓信號，具備出色的適應性，為寬禁帶半導體電路測試提供高效的解決方案。

ODP6000B系列光隔離電壓探頭 電氣規(guī)格

2、DPB6150、SDP6150系列高壓差分探頭

DPB6150、SDP6150系列高壓差分探頭，最高帶寬400 MHz，能測量高達1500 Vpk的電壓。具備良好的共模噪聲抑制能力，輸入端的高輸入阻抗和較低電容，可準確測量差分電壓信號、浮地信號。此外還配備了一鍵調零、過載聲光報警功能，確保操作的安全性和便捷性?？蓮V泛用于開關電源﹑電子鎮(zhèn)流器﹑變頻家電和其它電氣功率裝置等的研發(fā)或檢修工作中。

DPB6150系列高壓差分探頭

DPB6150系列高壓差分探頭

DPB6150系列高壓差分探頭 電氣規(guī)格

SDP6150系列高壓差分探頭

SDP6150系列高壓差分探頭

SDP6150系列高壓差分探頭 電氣規(guī)格

3、SAP1000H 高壓差分探頭

SAP1000H高壓差分探頭具有1GHz的高帶寬，±42V的高動態(tài)范圍，無論是測量微小信號還是大信號，都能游刃有余。同時，其低至1 pF的差分輸入電容，可極大降低對被測電路的影響，小于350 ps的上升時間，能夠精準捕捉信號上升沿的每個細微變化。此外SAP1000H可在緊湊的體積內實現衰減檔位的快速切換，無論是進行開關電源的測量，還是高速數字電路的調試，SAP1000H都能高效完成測試任務。

SAP1000H高壓差分探頭