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提升源頭,應付復雜測試環(huán)境


  來源: 中電科 時間:2016-12-07 作者:王令
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AV1464系列信號發(fā)生器平臺上進行相位噪聲提升試驗,通過改變鎖相環(huán)中環(huán)路相關參數(shù),使得相位噪聲達到所需要求。以下為載波1.25GHz頻偏200Hz相位噪聲從原有的-110改善為現(xiàn)在的-127dBc/Hz效果。


1  改進后相位噪聲測試曲線圖

而在雜散試驗中,通過改善電源以及適當改變整機結(jié)構(gòu)特性來降低雜散,使得載波1.5GHz的雜散從-91dBc降到-107dBc。通過試驗可以滿足該所對于信號發(fā)生器的高指標需求。以下為雜散改變后效果。


2  改進后雜散測試曲線圖

根據(jù)AV1464系列信號發(fā)生器平臺上的試驗結(jié)果進行修改AV1464,并提供給該所進行實際的接收機性能測試,解決了測試所存在的困難,很好的完成測試需求。

關鍵詞:儀器儀表 測試測量 信號發(fā)生器    瀏覽量:788

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