工程師在執(zhí)行雜散測量時通常需要耗費大量時間，同時還面臨著測試時間與測試范圍之間的折中。利用新的高性能頻譜分析儀功能，Keysight PNA 可以在寬廣的頻率范圍內執(zhí)行快速雜散搜索，測試吞吐量相比現(xiàn)有測量方法提升 500 倍。測量結果可以與當前最快、最復雜的獨立頻譜或信號分析儀相提并論。
VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業(yè)界領先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉換器、放大器、模塊或子系統(tǒng)，從而縮短設計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量;諧波測量;互調產物測量;以及其他高階混頻產物測量。
夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準和去嵌入(校正接收機響應誤差，消除電纜和夾具影響)中受益――測試精度將會明顯改善，從而實現(xiàn)更小的測試容限和更苛刻的器件技術指標。
VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業(yè)界領先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉換器、放大器、模塊或子系統(tǒng)，從而縮短設計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量;諧波測量;互調產物測量;以及其他高階混頻產物測量。
夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準和去嵌入(校正接收機響應誤差，消除電纜和夾具影響)中受益――測試精度將會明顯改善，從而實現(xiàn)更小的測試容限和更苛刻的器件技術指標。
