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國儀量子掃描電鏡SEM3200成功交付山東華豐


  來源: 國儀量子 時間:2023-03-02 編輯:儀器儀表WXF
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近日,國儀量子的鎢燈絲掃描電鏡SEM3200成功交付山東華豐新型材料有限公司。這款掃描電鏡SEM3200將助力華豐新材對產(chǎn)品品質(zhì)進行全過程把控,用于檢測產(chǎn)品表面成份,進行材料成分分析、鋼鐵斷口分析、材料失效分析,為其板材產(chǎn)品的品質(zhì)控制與改善提供了高效便捷的技術(shù)保障。

鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡,擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。


掃描電鏡作為現(xiàn)代材料科學(xué)應(yīng)用最廣泛的分析檢測儀器,在鋼鐵材料分析研究中,可應(yīng)用于材料的微觀形貌與成分分析;材料斷口分析;材料失效分析;材料的晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量等。對鋼鐵材料制造工藝改進、品質(zhì)控制有著重要作用。

 

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