5月13日上午，第十屆IEEE下一代電子國際學術會議（ISNE 2023）暨第一屆無錫集成電路產研融合發(fā)展高峰論壇在無錫高新區(qū)舉行。中國工程院院士、浙江大學微納電子學院院長吳漢明，高新區(qū)黨工委書記、新吳區(qū)委書記崔榮國，江南大學黨委常委、副校長倪松濤，市工信局局長馮愛東，區(qū)領導顧國棟、朱曉紅、劉成，大會創(chuàng)辦主席IEEE Fellow劉俊杰，以及來自全球集成電路領域的頂級專家學者、產業(yè)大咖出席活動。無錫廣電計量作為第一批唯一的第三方技術服務型單位，入選測試服務(EMI/EMC 測試) 和失效分析及可靠性 (FIB分析) 服務子平臺。

簽約儀式上，吳漢明、崔榮國、倪松濤、馮愛東、顧國棟、朱曉紅、劉成、劉俊杰共同見證無錫國家“芯火”雙創(chuàng)基地（平臺）與無錫廣電計量、華潤安盛、迪思微、東南大學無錫集成電路技術研究所、芯啟博、納瑞電子6家服務子平臺合作簽約。本次簽約的子平臺可優(yōu)先為本地集成電路企業(yè)提供包括失效分析及可靠性、測試服務、晶圓制造服務、封裝服務等在設計、制造、封測等關鍵節(jié)點的公共技術專業(yè)服務，將進一步整合無錫集成電路產業(yè)公共服務資源與服務能力，實現資源優(yōu)勢互補、降本增效、協(xié)同發(fā)展。

簽約儀式（圖：無錫高新區(qū)在線）

廣電計量集成電路測試與分析實驗室                廣電計量電磁兼容檢測實驗室

在集成電路測試與分析領域，廣電計量目前已投入300多臺高端檢測分析設備，形成了以博士、專家為核心的人才隊伍；打造了8個專項實驗室，1個功能安全認證中心，全面提升在元器件篩選與國產化驗證、半導體器件與模塊質量提升工程，以及車規(guī)級芯片AEC-Q認證這三大板塊的檢測和科研咨詢服務核心競爭力，并完善半導體材料分析技術及集成電路量產測試技術能力，全方位打造一流的半導體產業(yè)檢測服務平臺。

IEEE下一代電子國際學術會議（ISNE）是由“IEEE”與“IEEE Electron Devices Society”聯合發(fā)起的大型國際學術系列會議。本屆活動以“芯未來 與時代同頻”為主題，邀請到50余名院士和專家，以及來自北京大學、浙江大學、上海交通大學、復旦大學、南京大學等十余所知名高校的300余名學者和產業(yè)專家出席活動。會議重點圍繞“先進集成電路設計及可靠性研究”“功率器件及集成電路”“集成光電器件”“新一代通信技術”“第三代半導體技術”“低維半導體材料及器件”“新型傳感器研發(fā)及應用”等微電子、集成電路、信息控制及物聯網應用領域的熱點問題和最新研究成果進行交流研討。

廣電計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測上市公司。無錫廣電計量是廣電計量的全資子公司，是無錫市重點計量檢測機構、無錫市質量發(fā)展服務聯盟的主要發(fā)起單位之一，并與無錫市合力打造科技公共服務平臺，為長三角經濟圈的半導體、汽車、航空、軌道交通、食品等國民經濟重要行業(yè)和領域提供計量檢測技術支撐。同時依托母公司形成了覆蓋全國的技術服務保障能力，可為各行業(yè)領域客戶提供便捷的技術服務。