SW1024L是巨哥科技發(fā)布的一款1024像元的短波紅外線(xiàn)列相機(jī)，響應(yīng)波段為900~1700nm。結(jié)合豎直方向的掃描，可以實(shí)現(xiàn)高分辨率的短波成像。

新品特點(diǎn)

01 分辨率高，像素高達(dá)1024，像元12.5μm。

02 高動(dòng)態(tài)范圍(>70dB)。

03 響應(yīng)波段900~1700nm，可擴(kuò)展至400~1700nm。

04 最短積分時(shí)間5us，36K高幀率，可外部觸發(fā)。

05 一級(jí)TEC制冷，暗電流小，信噪比提升一倍。

06 體積小巧，便于集成，提供功能豐富的SDK，支持二次開(kāi)發(fā)。

07 網(wǎng)絡(luò)輸出，即插即用，使用方便。

相關(guān)行業(yè)應(yīng)用

01 半導(dǎo)體晶圓檢測(cè)

晶圓是一種薄的半導(dǎo)體材料基材，用于制造電子集成電路。半導(dǎo)體材料種類(lèi)多樣，其中最常用的一種半導(dǎo)體材料是硅(Si)。

晶圓在生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生各種缺陷，比如在各環(huán)節(jié)累積的殘余應(yīng)力會(huì)使得晶圓內(nèi)部產(chǎn)生裂紋。如果未能在后續(xù)IC制造環(huán)節(jié)之前把這些缺陷檢測(cè)出來(lái)，就會(huì)影響最終成品IC芯片的良率，推高制造成本。利用短波紅外光能穿透硅片的特性，使用短波紅外相機(jī)就能檢測(cè)到硅片內(nèi)部的缺陷，防止不良晶圓流入后續(xù)環(huán)節(jié)，大大降低制造成本。

02 物品分選

短波紅外波段對(duì)應(yīng)分子鍵振動(dòng)的合頻和倍頻，通過(guò)檢測(cè)物品對(duì)不同波長(zhǎng)的短波紅外光的吸收情況，就能分析出物品的種類(lèi)和缺陷等信息。因此，短波紅外相機(jī)也被廣泛用于谷物、茶葉、塑料等的分揀。

03 短波紅外測(cè)溫

對(duì)于幾百度以上的高溫目標(biāo)，短波紅外測(cè)溫相對(duì)于目前常用的非制冷長(zhǎng)波紅外測(cè)溫具有測(cè)溫穩(wěn)定、精度高、響應(yīng)速度快等優(yōu)勢(shì)。使用短波線(xiàn)掃相機(jī)，對(duì)于傳送帶上快速移動(dòng)的物體進(jìn)行成像和測(cè)溫，可以極大地消除拖尾效應(yīng)的影響，得到畫(huà)質(zhì)清晰、測(cè)溫準(zhǔn)確的短波紅外圖像。

04 光伏板隱裂檢測(cè)

在晶體硅太陽(yáng)電池的生產(chǎn)過(guò)程中，會(huì)產(chǎn)生隱裂、劃傷等缺陷，這些缺陷限制了電池的光電轉(zhuǎn)換效率和使用壽命，然而這些缺陷大部分是難以通過(guò)肉眼或可見(jiàn)光成像等手段檢測(cè)出來(lái)。利用硅太陽(yáng)能電池具有的電致發(fā)光（EL）和光致發(fā)光（PL）特性，可以通過(guò)外加正向偏壓或激光照射激發(fā)的方式，使太陽(yáng)能電池片自身發(fā)出短波紅外光。而缺陷區(qū)域的發(fā)出的光相對(duì)于正常區(qū)域會(huì)有明顯的差別，通過(guò)短波紅外相機(jī)對(duì)激發(fā)狀態(tài)下的太陽(yáng)能電池片進(jìn)行檢測(cè)，就能有效地檢測(cè)出其內(nèi)部缺陷。

SW1024L短波線(xiàn)列相機(jī)拍攝光伏電池的檢測(cè)效果

巨哥科技同時(shí)擁有短波線(xiàn)列相機(jī)SW1024L以及短波面陣相機(jī)SW640。