近日，電科思儀突破高精密光學(xué)設(shè)計(jì)及裝調(diào)技術(shù)瓶頸，成功研制出高性能光譜分析儀。
該儀器為應(yīng)對(duì)紫外、可見(jiàn)、近紅外光譜波段的復(fù)雜測(cè)試場(chǎng)景而設(shè)計(jì)，波段覆蓋350納米～1200納米，最高光譜分辨率達(dá)到10皮米，動(dòng)態(tài)范圍優(yōu)于65分貝，單次掃描時(shí)間最快可突破200毫秒，能夠快速精細(xì)還原光譜特征，滿足產(chǎn)線、實(shí)驗(yàn)室光譜測(cè)試需求，可廣泛應(yīng)用于光有源器件、光無(wú)源器件、應(yīng)用光子設(shè)備、可見(jiàn)光通信、激光雷達(dá)、生物醫(yī)療、工業(yè)應(yīng)用、家用電子設(shè)備、測(cè)量傳感、電信等領(lǐng)域。
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