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ADI攜儀器儀表測(cè)量等硬核方案閃耀慕尼黑上海電子展


  來源: ADI 時(shí)間:2025-04-17 編輯:清風(fēng)
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春意盎然的上海,全球電子行業(yè)的目光再次聚焦于新國(guó)際博覽中心。2025慕尼黑上海電子展在此盛大啟幕,ADI 無疑是展會(huì)最受矚目的焦點(diǎn)之一。



面對(duì)工業(yè)自動(dòng)化升級(jí)、汽車架構(gòu)革新及智能連接普及帶來的嚴(yán)苛挑戰(zhàn),ADI以一系列創(chuàng)新的現(xiàn)場(chǎng)演示,為智能駕駛、智慧座艙、工業(yè)數(shù)字化、過程自動(dòng)化、機(jī)器人、電源管理及儀器儀表測(cè)量等前沿應(yīng)用,提供克服系統(tǒng)級(jí)挑戰(zhàn)、加速創(chuàng)新落地的核心方案,展現(xiàn)了ADI深厚的技術(shù)積累和對(duì)市場(chǎng)趨勢(shì)的精準(zhǔn)把握。


儀器儀表測(cè)量方案 驅(qū)動(dòng)精密測(cè)量的技術(shù)前沿


隨著半導(dǎo)體工藝的不斷進(jìn)步和無線通信頻率的持續(xù)攀升,以及新材料等領(lǐng)域的發(fā)展,對(duì)測(cè)試測(cè)量?jī)x器的精度、速度、帶寬和集成度提出了新的要求。ADI在此領(lǐng)域展出的一系列高性能模塊和方案,幫助客戶解決棘手的測(cè)量難題。


面對(duì)日益復(fù)雜的射頻/微波系統(tǒng)測(cè)試需求,基于ADL5960的8端口VNA參考設(shè)計(jì)提供了緊湊型、低功耗的解決方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高達(dá)20GHz的精確S參數(shù)測(cè)量,滿足多端口器件表征的需求。

精準(zhǔn)的信號(hào)源和采集是測(cè)試的基礎(chǔ),ADMX100x采用專有數(shù)字預(yù)失真(DPD)算法,實(shí)現(xiàn)了極低的諧波失真(THD),可生成和測(cè)量高保真信號(hào),適用于高端音頻、通信等測(cè)試場(chǎng)景。

在元器件表征、材料分析等領(lǐng)域,精確的阻抗測(cè)量不可或缺,精密阻抗測(cè)量分析模塊ADMX2001采用混合信號(hào)算法,具備微小電容變化檢測(cè)和高電阻值測(cè)量能力,可以滿足各類精密測(cè)試的需求。



源測(cè)量單元(SMU)是半導(dǎo)體測(cè)試的核心設(shè)備,ADMX3001集成了數(shù)字PID控制算法,可精確設(shè)置輸出電平并進(jìn)行鉗位,同時(shí)提供和測(cè)量高壓下的電壓和電流,支持復(fù)雜的器件特性分析。

作為基礎(chǔ)測(cè)量?jī)x器,數(shù)字萬用表的精度至關(guān)重要,ADI展示的七位半DMM方案,憑借高精度模擬前端和先進(jìn)數(shù)字化架構(gòu),實(shí)現(xiàn)了小于1ppm非線性度的出色測(cè)量分辨率和精度,是校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室和高端測(cè)試系統(tǒng)的理想選擇。



2025慕尼黑上海電子展熱力全開!ADI攜硬核技術(shù)點(diǎn)燃現(xiàn)場(chǎng)。同時(shí),ADI 多位資深技術(shù)專家齊聚現(xiàn)場(chǎng),圍繞汽車智能化、工業(yè)數(shù)字化、電機(jī)驅(qū)動(dòng)、儀器儀表測(cè)量、人形機(jī)器人等熱門議題展開干貨分享,既有對(duì)行業(yè)趨勢(shì)的解讀,也有落地方案的解析,為到場(chǎng)觀眾呈現(xiàn)一場(chǎng)技術(shù)與思維的雙重盛宴。



精密儀器儀表方案,加快客戶產(chǎn)品上市


在當(dāng)前快速發(fā)展的市場(chǎng)環(huán)境下,加速產(chǎn)品開發(fā)和上市周期對(duì)客戶至關(guān)重要。ADI深刻理解客戶面臨的挑戰(zhàn),致力于提供超越單個(gè)芯片的完整信號(hào)鏈及系統(tǒng)級(jí)解決方案,ADI儀器儀表事業(yè)部高級(jí)市場(chǎng)經(jīng)理姜海濤展示了ADI在儀器儀表領(lǐng)域?yàn)榧铀倏蛻糸_發(fā)進(jìn)程而推出的四款核心解決方案。


首先是緊湊型阻抗測(cè)試分析模塊,該模塊集成了高性能硬件與復(fù)雜的校準(zhǔn)、補(bǔ)償算法,提供了一個(gè)“即插即用”的系統(tǒng)級(jí)方案。用戶可輕松獲取從直流到10MHz寬頻率范圍的高精度阻抗測(cè)量結(jié)果,適用于多領(lǐng)域阻抗測(cè)量場(chǎng)景,包括電池、半導(dǎo)體器件、電阻、電容、電感等被動(dòng)器件測(cè)量,顯著簡(jiǎn)化了測(cè)試系統(tǒng)的集成與開發(fā)。


其次是超低失真信號(hào)源模塊 (ADMX1001/1002)。該方案基于業(yè)界領(lǐng)先的20位DAC,實(shí)現(xiàn)了極低的失真度和高穩(wěn)定性,1kHz時(shí)THD可達(dá)-130dBc。輸出帶寬覆蓋0-40kHz,并可通過DAQ方案擴(kuò)展。作為一個(gè)系統(tǒng)級(jí)模塊,它為需要精密、干凈信號(hào)源的應(yīng)用,如高精度ADC測(cè)試、音頻分析提供了便捷、高性能的選擇。


第三個(gè)是低延遲數(shù)據(jù)采集DAQ解決方案參考設(shè)計(jì)CN0584/5系列。該方案針對(duì)實(shí)時(shí)控制和硬件在環(huán) (HIL) 仿真等對(duì)延遲極度敏感的應(yīng)用,實(shí)現(xiàn)了從模擬輸入采樣到模擬輸出復(fù)現(xiàn)端到端約200納秒的超低延遲,同時(shí)保證了信號(hào)的高保真度。方案提供多通道模擬輸入輸出,并集成保護(hù)功能。


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