美國汽車電子協(xié)會(automotive electronics council, AEC)主要是針對車載應用，汽車零部件，汽車車載電子實施標準規(guī)范，建立質(zhì)量管理控制標準，提高車載電子的穩(wěn)定性和標準化。AEC對汽車車載電子零部件測試標準以AEC-Q100-（001~012），AEC-Q101，AEC-Q200測試。
以下分別對AEC-Q100-(001~012)，AEC-Q101,AEC-Q200測試簡說：
AEC-Q100是預防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對每一個芯片進行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認，特別對產(chǎn)品功能與性能進行標準規(guī)范測試。
對AEC-Q100-(001~012)解說：
AEC-Q100-001邦線切應力測試
AEC-Q100-002人體模式靜電放電測試
AEC-Q100-003機械模式靜電放電測試
AEC-Q100-004積體電路閂鎖效應測試
AEC-Q100-005可寫可擦除的永久性記憶的耐久性、資料保持及工作壽命的測試
AEC-Q100-006熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試
AEC-Q100-007故障仿真和測試等級
AEC-Q100-008早期壽命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009電分配評估
AEC-Q100-010錫球剪切測試
AEC-Q100-011帶電器件模式的靜電放電測試
AEC-Q100-012，12V系統(tǒng)靈敏功率設備的短路可靠性描述
在AEC-Q100文件中,定義出以下幾類不同任務的測試群組:
測試組 A: 加速環(huán)境應力測試（針對芯片產(chǎn)品）Accelerated Environment Stress Tests;
測試組 B: 壽命加速模擬測試 (針對芯片產(chǎn)品/IP/工藝庫) Accelerated Lifetime Simulation Tests;
測試組 C: 封裝完整性測試（針對芯片產(chǎn)品）Package Assembly Integrity Tests;
測試組 D: 工藝可靠性測試(針對Foundry廠） Die Fabrication Reliability Tests;
測試組 E: 電氣可靠性測試(針對芯片產(chǎn)品/IO庫) Electrical Verification Tests;
測試組 F: 缺陷篩選測試（針對芯片產(chǎn)品）Defect Screening Tests;
測試組 G: 封裝過程后的封裝完整性測試（針對芯片產(chǎn)品）Cavity Package Integrity。
每一個測試群組會再細化定義出幾項測試項目,并說明這些測試項目的測試理論參考何項半導體業(yè)界所使用的認證規(guī)范(例如: JEDEC、MIL-STD883、SAE或者AEC-Q100本身所定義并且于附件里所定義的規(guī)則);每一個測試項目也同時會定義測試樣品單一批次數(shù)量、測試批次量以及判斷合格標準,若有額外的規(guī)范也會定義在每一項測試規(guī)范當中。
首先ACE-Q100對汽車零件工作溫度等級定義如下：
0等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-150℃
1等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-125℃
2等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-105℃
3等級：環(huán)境工作溫度范圍-40℃-85℃
4等級：環(huán)境工作溫度范圍0℃-70℃
AEC-Q100是由美國汽車電子協(xié)會AEC所制定的規(guī)范,主要是針對車載應用的集成電路產(chǎn)品所設計出的一套應力測試標準,此規(guī)范對于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當重要。
AEC-Q101汽車級半導體分立器件應力測試，主要對汽車分立器件，元器件標準規(guī)范要求，例舉如下的產(chǎn)品：
車用光電耦合器：用于車用隔離件、接口轉換器，光電耦合器（TLX9304、TLX9378、TLX9376）。
觸摸屏控制盤；
整卷分立器件；
汽車電子封裝技術：保護半導體芯片免受極端的環(huán)境和相關應力的影響是封裝的重要功能之一。
ARM微處理器：具有極低的導通電阻特性，傳導損耗低，且因其175 °C級別高溫耐熱性能，適用于邏輯電平的柵極驅(qū)動源及有高溫要求的環(huán)境。
功率器件MOSFET
AEC-Q200主要是對無源(被動)器件的應力測試，依據(jù)MIL-STD-202與JEDEC22A-104規(guī)范所制定。常有的AEC-Q200試驗測試例舉如下：
AEC-Q200無源器件應力測試標準
AEC-Q200-001阻燃測試
AEC-Q200-002人體模式靜電放電測試
AEC-Q200-003橫梁負載、斷裂強度
AEC-Q200-004自恢復保險絲測量程序
AEC-Q200-005板彎曲度測試
AEC-Q200-006表面貼裝后的剪切強度測試
AEC-Q200-007電涌測試
AEC-Q200標準測試的零部件主要包含：
石英振盪器：胎壓監(jiān)測系統(tǒng)(TPMS)、導航、防鎖死剎車系統(tǒng)(ABS)、安全氣囊和接近感測器 、車載多媒體、車用娛樂系統(tǒng)、備份攝影鏡頭；
車用厚膜晶片電阻：汽車冷暖系統(tǒng)、空氣調(diào)節(jié)、資訊娛樂系統(tǒng)、自動導航、照明、車門及車窗遙控裝置；
車用夾層金屬氧化物壓敏電阻：電機組件的浪涌保護、組件的浪涌吸收、半導體過壓保護；
耐低高溫表面貼裝固態(tài)模壓片式鉭電容器：燃油質(zhì)量傳感器、變速器、節(jié)流閥、傳動控制系統(tǒng)；
電阻：SMD電阻、薄膜電阻、熱敏電阻、壓敏電阻、車用抗硫化電阻、車用精密薄膜晶片電阻陣列、可變電阻；
電容：SMD電容、陶瓷電容、鋁電解電容、薄膜電容、可變電容；
電感：加固電感、電感器；
其他：LED薄膜氧化鋁陶瓷散熱基板、超音波元件、過電流保護SMD、過溫保護SMD、陶瓷共鳴器、車用PolyDiode半導。
