作者：應(yīng)用工程師孫振礫

相位噪聲測試的意義

相位噪聲（Phase noise）通常是指各類頻率源在各種噪聲的作用下引起的系統(tǒng)輸出信號相位的隨機變化。它是衡量各類頻率源（晶振，原子鐘，鎖相環(huán)）頻率穩(wěn)定質(zhì)量的重要指標(biāo)，在信號處理中，相位噪聲是波形相位中隨機波動的頻域表示，對應(yīng)于與完美周期性（抖動）的時域偏差。一般來說，射頻工程師談?wù)撜袷幤鞯南辔辉肼?，而?shù)字系統(tǒng)工程師則處理時鐘的抖動。

隨著頻率源技術(shù)和性能的不斷提升，相應(yīng)的噪聲量級也越來越下，因為對相對噪聲譜的測量要求也越來越高。

如何描述相位噪聲的大小呢？如下圖一所示，在偏移中心頻率一定范圍內(nèi)，單位帶寬內(nèi)的功率與總信號功率的比，單位為dBc/Hz。

圖一 相位噪聲的定義

相位噪聲測試方法

如果被測器件（DUT）的相位噪聲相對于頻譜分析儀的本地振蕩器較大，則可以使用頻譜分析儀測量相位噪聲。基于頻譜分析儀的測量可以顯示幾十個倍頻程范圍內(nèi)的相位噪聲功率；例如1Hz到1GHz偏移。

當(dāng)DUT的相位噪聲很低時，頻譜分析儀就無法滿足測試需要了，這時，相位噪聲測試儀可以作為頻譜分析儀的替代品。相位噪聲測試儀允許測量殘余（相加）噪聲和絕對噪聲。此外，還可以在載波附近進行低噪聲測量。

現(xiàn)代化的相位噪聲測試儀，不僅僅可以進行相位噪聲測量，還可以進行調(diào)幅噪聲測試，并將相位噪聲測試結(jié)果轉(zhuǎn)換為一定積分區(qū)間內(nèi)的隨機抖動測試結(jié)果。如下圖二所示，在同一個測試界面內(nèi)，既可以對OCXO的相位噪聲進行測量并顯示（黃色曲線），也可以顯示調(diào)幅噪聲測試結(jié)果（藍色曲線），并在下方顯示區(qū)域鐘顯示隨機抖動測試結(jié)果（Jitter）

圖二 基于FSWP相位噪聲測試儀的測試結(jié)果顯示

頻譜儀法測試相位噪聲均基于頻譜測試的結(jié)果進行相位噪聲的計算，該測試法無法區(qū)分調(diào)幅噪聲和相位噪聲，靈敏度受儀器固有相位噪聲限制，無載波抑制，測量范圍受分辨率濾波器形狀因子限制， 動態(tài)范圍有限等缺點。

在用單路硬件通道進行相位噪聲測試過程中，儀器內(nèi)部器件都會引入額外噪聲。所以最后測試到的相位噪聲實際是包含這些噪聲因素的。如果被測件的相位噪聲比較高，這些因素對結(jié)果的影響比較小。但是如果被測件本身的相位噪聲很低，那我們不得不考慮這些因素?；ハ嚓P(guān)法通過引入第二個支路，并且采取數(shù)學(xué)運算的方式，可以進一步提高相位噪聲的測試靈敏度。這也是相位噪聲分析儀多采用的測試方法。

圖三 互相關(guān)法相位噪聲測試原理

結(jié) 語

使用頻譜儀法進行相位噪聲測試時，雖然測試精度受儀器自身指標(biāo)影響，但測試設(shè)置簡單、快捷，頻率偏移范圍大，可測試很多信號源的特性，比如：雜散發(fā)射、鄰信道功率泄漏、高次諧波，并且可以直接顯示相位噪聲曲線（當(dāng)調(diào)幅噪聲忽略不計時）。使用相位噪聲測試儀可以避免頻譜儀法的限制，不僅可以測試靈敏度，還可以進行調(diào)幅噪聲測試，也是目前業(yè)界最主流的相位噪聲測試方法之一。