在實驗室用X射線時測試鉆石真假的一個很好的方法：在一個有X-射線源的環(huán)境內(nèi)，將被測寶石放在攝影膠片上.用X-射線照射。真鉆石會讓絕大部分X-射線透過并使膠片曝光，仿制品則吸收X-射線，其下的膠片未曝光，沖洗膠片，檢測未知寶石下面的膠片曝光度，即可知結(jié)果。

X射線用在安檢以及醫(yī)院的應(yīng)用已經(jīng)是眾所周知了，而X射線在分析測試中的應(yīng)用可以說更是眼花繚亂，應(yīng)接不暇。普遍應(yīng)用的XRD、XRF、XPS等，都是微觀譜圖分析（簡稱“微譜分析”）中常用到的方法。

X射線衍射儀（XRD），利用X射線與晶體相遇時會發(fā)生衍射現(xiàn)象，可以對具有晶型結(jié)構(gòu)的無機(jī)物、金屬以及結(jié)晶高分子進(jìn)行定性定量分析，還能進(jìn)行理化性質(zhì)的分析，結(jié)晶度分析等等。

X射線熒光光譜儀（XRF），樣品中原子受到高能X射線的照射，電子躍遷會發(fā)射出特征X射線，不同的元素會產(chǎn)生不同的特征X射線，針對這一特性，能夠?qū)υ剡M(jìn)行定性定量分析。除了幾個輕質(zhì)元素之外，XRF的檢測范圍是非常廣泛的。同樣的電子探針也是利用X射線波長和強(qiáng)度對微區(qū)元素進(jìn)行分析，常與電鏡聯(lián)用（SEM-EDS）。

X射線光電子能譜（XPS），以軟X射線作為激發(fā)源既可以電離外層電子也可以電離內(nèi)層電子，并且激發(fā)出俄歇電子，探測非鍵的內(nèi)層電子，用于元素的定性和定量分析，還可以進(jìn)行價態(tài)的分析。主要針對表面進(jìn)行分析，是一種對表面上的單原子或單分子層進(jìn)行分析的表面技術(shù)。而俄歇電子能譜是利用電子束作為激發(fā)源，使原子進(jìn)入內(nèi)層空穴后所釋放的能量，導(dǎo)致發(fā)射二次電子，廣泛應(yīng)用于各種材料分析及催化、吸附、腐蝕過程的分析等。

綜上所述，X射線雖沒有強(qiáng)大到隨手就能探測到鉆石（不然直接X射線掃一掃，大家都可以去挖鉆石發(fā)家致富了），不過X射線在儀器中的應(yīng)用也確實是十分的廣泛，但同樣的，任何單一一種儀器的測試用來判斷物質(zhì)和精確定量都是不夠嚴(yán)謹(jǐn)、不夠科學(xué)的，結(jié)合多種儀器圖譜和行業(yè)內(nèi)經(jīng)驗綜合推斷分析，才能發(fā)揮儀器更大的作用并且能夠更深入的了解待測物。X射線在其中扮演的角色十分重要，用于各行各業(yè)的材料分析檢測當(dāng)中，是分析測試家族中的汗血寶馬，具有不可替代的作用。