IQ2010 的操作是通過USB與電腦連結(jié)，利用提供的操作介面，可輕易控制系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試，而系統(tǒng)包含三個(gè)并行測(cè)試的子系統(tǒng)，第一個(gè)為GPS任意波形發(fā)生器arbitrary waveform generator （AWG）提供GPS所需的信號(hào)，其頻率為1.57542 GHz L1。

在GPS測(cè)試同時(shí)可啟用FM子系統(tǒng)，后者是一個(gè)FM 任意波形發(fā)生器和FM矢量分析儀 VSA，頻段覆蓋為 76 至 108MHz。

第三個(gè)并行子系統(tǒng)用於測(cè)量WiFi， WiMAX， Bluetooth 和NFC，由於前三種通訊 （WiFi， WiMAX和Bluetooth）頻率重疊故不能作并行測(cè)試，WiFi 發(fā)射和接收測(cè)試可用RF1和RF2接口（I和Q）而頻段為 2.15 至 2.7GHz 和 4.9 至 6GHz，WiMAX 亦一樣但頻段為 2.15 至 2.7GHz， 3.3 至 3.8GHz 和 4.9 至 6GHz，Bluetooth 則在 2.4 至 2.5GHz 頻段。

NFC 用 BNC頭連結(jié)并利用內(nèi)置開關(guān)繞過本振（LO）和混頻部份使覆蓋從直流 （DC） 至35MHz；而內(nèi)置前端轉(zhuǎn)換裝置讓信號(hào)源和分析儀互相切換於RF1和RF2接口，例如 RF1進(jìn)行WiFi發(fā)射而RF2進(jìn)行WiFi 接收。

以上的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)可讓3種通訊如對(duì)WiFi， GPS和FM進(jìn)行并行測(cè)試，以最為普遍智能手機(jī)的功能WiFi， Bluetooth， GPS和FM作例子，配含適宜的生產(chǎn)軟件，IQ2010可在WiFi和Bluetooth作串行測(cè)試時(shí)同時(shí)對(duì)GPS和FM作并行測(cè)試，這樣可減少一半的測(cè)試時(shí)間 （由100秒以上減至40秒內(nèi)），如圖2所示。

4 序列測(cè)試（sequence-based testing）功能

并行測(cè)試是最有效減少整體測(cè)試時(shí)間的方案，用家可自行組裝多臺(tái)單模式通訊儀表來實(shí)現(xiàn)或選用單臺(tái)多重通訊測(cè)試系統(tǒng)如IQ2010。 另外亦有一些方法可改進(jìn)測(cè)試時(shí)間，在測(cè)試中的信號(hào)其實(shí)包含一連串不停在功率和調(diào)制變化中的數(shù)據(jù)包，用戶可利用ACK 信號(hào)的特點(diǎn)從而減少對(duì)被測(cè)品（DUT）傳送指令的次數(shù)變相地節(jié)省測(cè)試時(shí)間。

舉例，在誤碼率測(cè)試中，一般會(huì)發(fā)1000個(gè)數(shù)據(jù)包，然后看有多少個(gè)誤包出現(xiàn)，測(cè)試軟件中可能需要在每個(gè)包后發(fā)出要求發(fā)下一個(gè)包的指令如 “send the next one”，這樣處理就需要傳送多次指令。假如能得到芯片商的配合，讓DUT在收到一個(gè)無誤包時(shí)回傳一個(gè)ACK信號(hào)，沒有ACK信號(hào)回傳就代表是一個(gè)誤包，這樣用一指令連續(xù)發(fā)送1000個(gè)包，測(cè)試儀可跟據(jù)收到多少 ACK信號(hào)計(jì)算出誤包率，當(dāng)中大量減少DUT和儀表的指令傳送時(shí)間。

5 用戶介面

而另一個(gè)LitePoint工程師要考慮的因素就是用戶的使用慣性，試想如采用多臺(tái)單模式的系統(tǒng)，要熟悉和應(yīng)用多個(gè)不同介面就是一個(gè)煩事，更別說要組裝、協(xié)調(diào)和有效地使用在多重通訊裝置上，故在用戶介面的設(shè)計(jì)上，IQ2010在多個(gè)不同的通訊模式都用上相近的版面（圖5），相同的操作鍵亦盡量安排在同一位置，用戶只需熟悉一個(gè)通訊模式的操作介面，對(duì)其他模式的操作就不會(huì)感到復(fù)雜難用。

6 總結(jié)

不管今日或?qū)淼膫€(gè)人通訊裝備都會(huì)具備多重無線通訊模式，如果沒有創(chuàng)新的測(cè)試方案，每多一種通訊模式都會(huì)線性地增加生產(chǎn)成本和時(shí)間，在消費(fèi)電子市場(chǎng)中，功能的增添是在劇烈競(jìng)爭(zhēng)中的必然工具和發(fā)展，但價(jià)格卻又要保持競(jìng)爭(zhēng)力，面對(duì)兩難處境，IQ2010在并行測(cè)試 （Concurrent Testing） 和 序列測(cè)試（sequence-based testing）的創(chuàng)新設(shè)計(jì)卻讓生產(chǎn)時(shí)間降低，解決了生產(chǎn)成本的瓶頸問題。