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先進(jìn)制造中的精密測(cè)量技術(shù)


時(shí)間:2018-04-24 編輯:王鐘鳴
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在科學(xué)技術(shù)高度發(fā)展的今天,現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)對(duì)一個(gè)國(guó)家的發(fā)展起著十分重要的作用。如果沒(méi)有先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)與測(cè)量手段,就很難設(shè)計(jì)和制造出綜合性能和單相性能均優(yōu)良的產(chǎn)品,更談不發(fā)展現(xiàn)代高新尖端技術(shù),因此世界各個(gè)工業(yè)發(fā)達(dá)國(guó)家都很重視和發(fā)展現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)。

 

精密坐標(biāo)測(cè)量


精密測(cè)量技術(shù)

現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)是一門(mén)集光學(xué)、電子、傳感器、圖像、制造及計(jì)算機(jī)技術(shù)為一體的綜合性交叉學(xué)科,涉及廣泛的學(xué)科領(lǐng)域,它的發(fā)展需要眾多相關(guān)學(xué)科的支持。

在現(xiàn)代工業(yè)制造技術(shù)和科學(xué)研究中,測(cè)量?jī)x器具有精密化、集成化、智慧化的發(fā)展趨勢(shì)。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)(CMM)是適應(yīng)上述發(fā)展趨勢(shì)的典型代表,它幾乎可以對(duì)生產(chǎn)中的所有三維復(fù)雜零件尺寸、形狀和相互位置進(jìn)行高準(zhǔn)確度測(cè)量。發(fā)展高速坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)的要求。同時(shí),作為下世紀(jì)的重點(diǎn)發(fā)展目標(biāo),各國(guó)在微/納米測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域開(kāi)展了廣泛的應(yīng)用研究。

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)作為幾何尺寸數(shù)字化檢測(cè)設(shè)備在機(jī)械制造領(lǐng)域得到推廣使用。

1、誤差自補(bǔ)償技術(shù)

德國(guó)CarlZeiss公司最近開(kāi)發(fā)的CNC小型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用熱不靈敏陶瓷技術(shù),使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度在17.825.6℃范圍不受溫度變化的影響。國(guó)內(nèi)自行開(kāi)發(fā)的數(shù)控測(cè)量機(jī)軟件系統(tǒng)PMIS包括多項(xiàng)系統(tǒng)誤差補(bǔ)償、系統(tǒng)參數(shù)識(shí)別和優(yōu)化技。

 

CNC小型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

2、豐富的軟件技術(shù)

CarlZeiss公司開(kāi)發(fā)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)軟件STRATA-UX,其測(cè)量數(shù)據(jù)可以從CMM直接傳送到隨機(jī)配備的統(tǒng)計(jì)軟件中去,對(duì)測(cè)量系統(tǒng)給出的檢驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析與管理,根據(jù)要求對(duì)其進(jìn)行評(píng)估。依據(jù)此數(shù)據(jù)庫(kù),可自動(dòng)生成各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表,包括X-BAR&RX_BAR&S圖表、頻率直方圖、運(yùn)行圖、目標(biāo)圖等。

美國(guó)公司的Cameleon測(cè)量系統(tǒng)所配支持軟件可提供包括齒輪、板材、凸輪及凸輪軸共計(jì)50多個(gè)測(cè)量模塊。

日本Mistutor公司研制開(kāi)發(fā)了一種圖形顯示及繪圖程序,用于輔助操作者進(jìn)行實(shí)際值與要求測(cè)量值之間的比較,具有多種輸出方式。

 

STRATA-UX系統(tǒng)處理簡(jiǎn)圖

3、非接觸測(cè)量

基于三角測(cè)量原理的非接觸激光光學(xué)探頭應(yīng)用于CMM上代替接觸式探頭。通過(guò)探頭的掃描可以準(zhǔn)確獲得表面粗糙度信息,進(jìn)行表面輪廓的三維立體測(cè)量及用于模具特征線(xiàn)的識(shí)別。

該方法克服了接觸測(cè)量的局限性。將激光雙三角測(cè)量法應(yīng)用于大范圍內(nèi)測(cè)量,對(duì)復(fù)雜曲面輪廓進(jìn)行測(cè)量,其精度可高于1μm。英國(guó)IMS公司生產(chǎn)的IMP型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以配用其它廠商提供的接觸式或非接觸式探頭。

 

IMP型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

/納米級(jí)精密測(cè)量技術(shù)

科學(xué)技術(shù)向微小領(lǐng)域發(fā)展,由毫米級(jí)、微米級(jí)繼而涉足到納米級(jí),即微/納米技術(shù)。

納米級(jí)加工技術(shù)可分為加工精度和加工尺度兩方面。加工精度由本世紀(jì)初的最高精度微米級(jí)發(fā)展到現(xiàn)有的幾個(gè)納米數(shù)量級(jí)。金剛石車(chē)床加工的超精密衍射光柵精度已達(dá)1nm,已經(jīng)可以制作10nm以下的線(xiàn)、柱、槽。

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