輻射發(fā)射測(cè)量方法－1Ω/150Ω直接耦合法
德國(guó)LANGER公司開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)的用于測(cè)量IC引腳傳導(dǎo)發(fā)射的1歐姆/150歐姆組件，符合IEC61967-4規(guī)定的兩種測(cè)試方法：1Ω測(cè)試法和150Ω測(cè)試法。1Ω測(cè)試法用來(lái)測(cè)試接地引腳上的總騷擾電流，150Ω測(cè)試法用來(lái)測(cè)試輸出端口的騷擾電壓。
測(cè)試示意圖
測(cè)試連接圖
探頭技術(shù)探頭參數(shù)
輻射發(fā)射測(cè)量方法－磁場(chǎng)探頭法
德國(guó)LANGER公司開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)的用于測(cè)量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射的磁場(chǎng)探頭，符合IEC61967-6測(cè)試要求，磁場(chǎng)探頭法是通過(guò)測(cè)試PCB板導(dǎo)線(xiàn)上的電流來(lái)評(píng)定集成電路的電磁發(fā)射。芯片引腳通過(guò)PCB板上的導(dǎo)線(xiàn)與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個(gè)靠近的磁場(chǎng)探頭獲取，由電磁感應(yīng)定律，探頭輸出端的電壓正比于導(dǎo)線(xiàn)上的射頻電流。
測(cè)試示意圖
測(cè)試連接圖
探頭技術(shù)參數(shù)
