它包含以下幾個(gè)指標(biāo)：
訓(xùn)練樣本集合的等錯(cuò)誤率(EER)，也就是當(dāng)真正用戶(hù)被系統(tǒng)錯(cuò)誤拒絕的百分比(FRR)等于假冒用戶(hù)被系統(tǒng)錯(cuò)誤接受的百分比(FAR)。
表1總結(jié)了計(jì)算訓(xùn)練樣本的EER與測(cè)試樣本的FAR和FRR的結(jié)果。
表1 單一傳感器和多傳感器融合計(jì)算結(jié)果的指標(biāo)EER。FAR，FRR
從表1可知，電容傳感器性能明顯差于光學(xué)傳感器。其原因主要是電容傳感器采集圖像時(shí)的接觸面積遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于光學(xué)傳感器。直接導(dǎo)致了其采集的圖像提取的細(xì)節(jié)點(diǎn)數(shù)目少，因此，提取的細(xì)節(jié)點(diǎn)不能彼此正確的匹配。
從等錯(cuò)誤率計(jì)算的融合結(jié)果來(lái)看，性能也有很大的提高，邏輯融合減少EER從3.6%到2.9%。測(cè)試樣本的結(jié)果也表明融合提高了系統(tǒng)的魯棒性，實(shí)際上，在邏輯融合(表1第5行)以后，訓(xùn)練樣本的性能(表1第2列)和測(cè)試樣本的性能偏差(表l第3列和第4列)大大減小了。
訓(xùn)練樣本集合的等錯(cuò)誤率(EER)，也就是當(dāng)真正用戶(hù)被系統(tǒng)錯(cuò)誤拒絕的百分比(FRR)等于假冒用戶(hù)被系統(tǒng)錯(cuò)誤接受的百分比(FAR)。
表1總結(jié)了計(jì)算訓(xùn)練樣本的EER與測(cè)試樣本的FAR和FRR的結(jié)果。
表1 單一傳感器和多傳感器融合計(jì)算結(jié)果的指標(biāo)EER。FAR，FRR
從表1可知，電容傳感器性能明顯差于光學(xué)傳感器。其原因主要是電容傳感器采集圖像時(shí)的接觸面積遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于光學(xué)傳感器。直接導(dǎo)致了其采集的圖像提取的細(xì)節(jié)點(diǎn)數(shù)目少，因此，提取的細(xì)節(jié)點(diǎn)不能彼此正確的匹配。
從等錯(cuò)誤率計(jì)算的融合結(jié)果來(lái)看，性能也有很大的提高，邏輯融合減少EER從3.6%到2.9%。測(cè)試樣本的結(jié)果也表明融合提高了系統(tǒng)的魯棒性，實(shí)際上，在邏輯融合(表1第5行)以后，訓(xùn)練樣本的性能(表1第2列)和測(cè)試樣本的性能偏差(表l第3列和第4列)大大減小了。
