提問：為什么測試絕緣電阻的讀數(shù)一直在變化？有哪些因素影響？
優(yōu)利德：
（1）電容電流：實驗的加壓瞬間，電容充電電流即對被測絕緣材料的電容量充電，這個瞬間電流開始時相對較大，但如被測材料充電完畢后，會以指數(shù)曲線速度快速衰減接近零。一般在幾秒或十幾秒后，絕緣阻值讀數(shù)需要去掉電容的充電電流，但這個充電流會儀表讀數(shù)跳動。
（2）吸收電流：由于分子極化和電子漂移而形成的電流。它隨施加電壓的時間從開始相對較高的原始值最終衰減至接近于零。
（3）泄漏電流：絕緣體是不導(dǎo)電的，但實際上幾乎沒有什么一種絕緣材料是絕對不導(dǎo)電的。任何一種絕緣材料，在其兩端施加電壓，總會有一定電流通過，這種電流的有功分量叫做泄漏電流，而這種現(xiàn)象也叫做絕緣體的泄漏。
(4）很多材料并不是純電阻，在給材料施加高電壓時，材料內(nèi)部也會表現(xiàn)出不穩(wěn)定的狀態(tài)，也會使其絕緣電阻值有變動。
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