國家信息光電子創(chuàng)新中心等光通訊產(chǎn)業(yè)引領(lǐng)者將羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S公司”）和六幺四科技開發(fā)的ZNA-GOCA方案與其研發(fā)測試和生產(chǎn)篩選平臺完成集成整合，并正式應(yīng)用于400G光芯片產(chǎn)品的頻域測試。

5G通信和大數(shù)據(jù)中心等系統(tǒng)對數(shù)據(jù)流量需求大幅攀升，帶動了對數(shù)據(jù)傳輸?shù)母咝枨螅?00G將是新一代數(shù)據(jù)中心和骨干網(wǎng)建設(shè)的大勢所趨。400G光模塊是400G系統(tǒng)的核心部件，其主要功能是光電轉(zhuǎn)換：在發(fā)送端將電信號轉(zhuǎn)變成光信號，再通過光纖進(jìn)行傳送，到了接收端再將光信號轉(zhuǎn)變成電信號。400G光模塊芯片則是形成400G光模塊的基礎(chǔ)，是400G系統(tǒng)競爭的關(guān)鍵制高點(diǎn)。

光模塊芯片的頻域測試，是測量和評估光模塊芯片頻域帶寬、反射、群延時等特性的關(guān)鍵測試步驟，是晶片在片測試、器件封裝測試等工藝流程中的必須工序。

R&S公司和六幺四科技（Newkey Photonics）合作開發(fā)和推出的400G光模塊芯片頻域測試方案ZNA-GOCA，將R&S公司的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀ZNA和六幺四科技的光電底座GOCA67進(jìn)行硬件和軟件集成，形成一套精確、穩(wěn)定、高效的光模塊芯片頻域測試方案。

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案采用“微波光子技術(shù)”，突破了傳統(tǒng)方法對測量分辨率和相位精確度的限制，實(shí)現(xiàn)微波頻譜掃描向光波光譜掃描的映射，配合電-光、光-電和光-光校準(zhǔn)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)大帶寬、高精度、高分辨率的元器件頻譜響應(yīng)測試。在頻率分辨率、幅度分辨率、相位精確度和動態(tài)范圍等關(guān)鍵參數(shù)上，均實(shí)現(xiàn)大幅度提升。

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試軟件界面

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試的測試對象包括：（1）電光器件。如強(qiáng)度調(diào)制器（如馬赫增德爾調(diào)制器）、幅度調(diào)制器、電吸收調(diào)制器、直調(diào)激光器、光發(fā)射模塊或鏈路等；（2）光電器件。如PIN光電二極管、雪崩光電二極管（APD）、單行載流子光電二極管（UTC PD）、光接收模塊或鏈路等；（3）光光器件。如光纖、光纖光柵、光集成微環(huán)/盤/球、高非線性光纖、可調(diào)光延時線、可調(diào)光濾波器、微波光子鏈路等?？蓽y參數(shù)包括：S參數(shù)，3dB截止頻率，群延時，差分和共模參數(shù)等。

典型測試結(jié)果如下

I. 光-電器件（待測件：50GHz高速光電探測器）

II.電-光器件（待測件：50Gbps高速電光調(diào)制器）

III. 光-光器件測量（待測件：光微環(huán)芯片）