通過(guò)示波器的電源測(cè)試軟件中的開關(guān)損耗測(cè)試功能，可得到以下開關(guān)管的功率損耗測(cè)試結(jié)果，如圖6。通過(guò)結(jié)果我們可以判斷開關(guān)管的具體通斷波形以及電壓、電流值，并得到整個(gè)開關(guān)過(guò)程中開啟、關(guān)閉過(guò)程以及導(dǎo)通部分的損耗，從而可以判斷出有問(wèn)題的部分，進(jìn)行排查改善。
圖6 開關(guān)管波形實(shí)際測(cè)試圖
致遠(yuǎn)電子ZDS5000示波器內(nèi)部集成了電源測(cè)試軟件，可以直接對(duì)開關(guān)管的MOSFET進(jìn)行全過(guò)程各個(gè)部分的功率損耗測(cè)試。對(duì)于某些開關(guān)元器件，開關(guān)周期損耗不盡相同，且開關(guān)管開通和關(guān)斷時(shí)間很短，如Boost-PFC，因此不能用通過(guò)測(cè)量一個(gè)開關(guān)周期（如80KHz）評(píng)估整體損耗。ZDS5000系列示波器有512M的存儲(chǔ)深度，可以對(duì)PFC等高速功率管進(jìn)行高采樣率的半波分析，因此能夠測(cè)量的更準(zhǔn)確，如圖7所示。
圖7 PFC半周波測(cè)試
