為更好地承載上海集成電路“北翼”功能定位，加快推進(jìn)汽車芯片公共性研發(fā)平臺(tái)、汽車芯片第三方檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)等建設(shè)，日前，上海汽車芯片檢測(cè)認(rèn)證公共實(shí)驗(yàn)室揭牌啟用，這也是國(guó)內(nèi)各機(jī)動(dòng)車檢測(cè)平臺(tái)中率先開展建設(shè)車規(guī)級(jí)芯片檢測(cè)認(rèn)證的公共實(shí)驗(yàn)室。
汽車芯片檢測(cè)認(rèn)證公共實(shí)驗(yàn)室由上海機(jī)動(dòng)車檢測(cè)認(rèn)證技術(shù)研究中心有限公司承建，可提供芯片功能及可靠性、功能安全、信息安全、失效分析等汽車芯片檢測(cè)服務(wù)。
在上海汽檢的汽車芯片檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室里，多臺(tái)設(shè)備正在24小時(shí)不間斷地運(yùn)行。芯片檢測(cè)研究實(shí)驗(yàn)室主管工程師劉力介紹：“我們當(dāng)前開展的是車規(guī)級(jí)芯片的功率循環(huán)測(cè)試，根據(jù)相關(guān)的模型推算，在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部完成一周左右的測(cè)試時(shí)間，可以很好地模擬芯片裝車10年間的應(yīng)用表現(xiàn)?！?
汽車芯片耐久測(cè)試
目前，上海汽車芯片檢測(cè)認(rèn)證公共實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)建成針對(duì)車規(guī)級(jí)認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q100的全套測(cè)試能力，擁有十萬(wàn)級(jí)無(wú)塵凈化間、ATE等集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、超聲掃描顯微鏡等實(shí)驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。
如何給芯片做體檢？在超聲掃描顯微鏡下，正常芯片上產(chǎn)生的白色斑駁就相當(dāng)于我們?nèi)梭w的“病灶”。
芯片檢測(cè)研究實(shí)驗(yàn)室主任助理張瑜一邊演示一邊向記者介紹：“我們現(xiàn)在看到的這張圖片，是通過(guò)超聲波掃描顯微鏡拍攝的。通過(guò)這個(gè)測(cè)試，我們可以鎖定芯片哪個(gè)區(qū)域發(fā)生了損壞，這是屬于芯片的一個(gè)無(wú)損測(cè)試方式。就好比我們進(jìn)行體檢過(guò)程中的第一步，先鎖定這個(gè)芯片的病灶在哪個(gè)位置。”
汽車芯片超聲波影像
隨著汽車“三智”不斷發(fā)展，全球汽車芯片市場(chǎng)不斷擴(kuò)大。嘉定作為汽車生產(chǎn)制造的前沿陣地，對(duì)于汽車芯片的需求旺盛。
“從行業(yè)公布的數(shù)據(jù)來(lái)看，新能源車單車從2012年平均使用567顆汽車芯片增長(zhǎng)至2022年平均使用1459顆。長(zhǎng)期來(lái)看，芯片對(duì)于汽車的重要性會(huì)不斷提升。”張瑜說(shuō)，“目前，上海汽檢已投入4000萬(wàn)元以上的資金，建成2個(gè)高水平的汽車芯片實(shí)驗(yàn)室，將通過(guò)打造中國(guó)特有的汽車芯片標(biāo)準(zhǔn)體系，建立一個(gè)系統(tǒng)化、自主可控的汽車芯片可靠性評(píng)估技術(shù)規(guī)范和檢驗(yàn)檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)體系?！?
汽車芯片功能檢測(cè)
上海汽檢方面表示，目前實(shí)驗(yàn)室已服務(wù)包括泛亞汽車、上汽英飛凌等5家以上企業(yè)，進(jìn)行了10款左右芯片產(chǎn)品的檢測(cè)驗(yàn)證。未來(lái)，實(shí)驗(yàn)室將繼續(xù)深耕檢測(cè)技術(shù)研究，建立完整的車規(guī)級(jí)審核評(píng)價(jià)能力和一站式審核評(píng)價(jià)服務(wù)平臺(tái)，與上下游產(chǎn)業(yè)伙伴共同賦能國(guó)產(chǎn)芯片，推動(dòng)國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展。
下階段，汽車芯片檢測(cè)認(rèn)證公共實(shí)驗(yàn)室將通過(guò)建設(shè)六大平臺(tái)：集成電路測(cè)試服務(wù)平臺(tái)、第三代半導(dǎo)體測(cè)試服務(wù)平臺(tái)、汽車專用傳感器芯片測(cè)試服務(wù)平臺(tái)、多芯片模組測(cè)試服務(wù)平臺(tái)、汽車被動(dòng)組件測(cè)試服務(wù)平臺(tái)和芯片失效分析服務(wù)平臺(tái)，為芯片企業(yè)和汽車企業(yè)提供從研發(fā)到驗(yàn)證到失效分析溯源的完整服務(wù)能力，并實(shí)現(xiàn)芯片性能測(cè)試、芯片測(cè)試技術(shù)及設(shè)備開發(fā)、標(biāo)準(zhǔn)研究、芯片可靠性和一致性評(píng)估、混響室等芯片集成驗(yàn)證，推動(dòng)長(zhǎng)三角汽車芯片檢測(cè)能力互聯(lián)互通，測(cè)試資源共享。
撰稿：李華成
