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美國NIST通過納米精度檢測(cè)找出太陽能電池關(guān)鍵因素


時(shí)間:2017-06-30 作者:黃傾城
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 近期,據(jù)消息稱,美國國家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)研究院(NIST的研究員第一次以納米級(jí)精度檢測(cè)了廣泛使用的太陽能電池的化學(xué)成分及缺陷的變化。據(jù)悉,研究人員通過兩種新技術(shù)檢測(cè)了用碲化鎘半導(dǎo)體材料制造的常見太陽能電池,此舉是為進(jìn)一步掌握太陽能電池的微觀結(jié)構(gòu),提升太陽能光電轉(zhuǎn)化效率的方法。


在研究中,NIST科學(xué)家利用兩種依賴原子力顯微鏡(AFM)的輔助方法,通過光誘導(dǎo)共振(PTIR)來測(cè)量太陽能電池樣品從可見光到中紅外線的寬波長(zhǎng)范圍吸收光的數(shù)量,從而在納米級(jí)尺度得到太陽能電池的構(gòu)成及其缺陷。另一項(xiàng)技術(shù),被稱為掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡(dt-NSOM),通過記錄特定位置傳輸光的數(shù)量來捕捉太陽能電池的組成及缺陷的變化,從而形成詳細(xì)的納米尺度圖像。

實(shí)驗(yàn)表明,材料晶體排列的缺陷與其化學(xué)構(gòu)成中的雜質(zhì)相關(guān),新技術(shù)能檢測(cè)碲化鎘樣品中所謂的深層次缺陷的空間變化。這些缺陷引起碲化鎘與其它半導(dǎo)體中的電子和質(zhì)子(帶正電荷的顆粒)重新組合而不是發(fā)電,這是導(dǎo)致太陽能電池?zé)o法取得理論成效的關(guān)鍵原因之一。

值得一提的是,此研究成果具有廣泛適用性,將有助于太陽能電池研究,更好地了解各種光伏材料。該研究成果發(fā)表在2017412日的《Nanoscale》雜志上。

關(guān)于太陽能電池

太陽能電池又稱為“太陽能芯片”或“光電池”,是一種利用太陽光直接發(fā)電的光電半導(dǎo)體薄片。它只要被滿足一定照度條件的光照到,瞬間就可輸出電壓及在有回路的情況下產(chǎn)生電流。

關(guān)鍵詞:儀器儀表 測(cè)試測(cè)量 芯片 檢測(cè)    瀏覽量:612

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