金融界2024年4月9日消息，據(jù)國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告，華為技術(shù)有限公司申請一項(xiàng)名為“測量方法和測量系統(tǒng)“，公開號(hào)CN117848668A，申請日期為2022年9月。
專利摘要顯示，本申請實(shí)施例提供了一種測量方法和測量系統(tǒng)，該方法包括：獲取待測鏡片第一高度和第二高度，根據(jù)第一高度和第二高度分別確定第一光學(xué)部分的傾斜角度和第二光學(xué)部分的傾斜角度；再根據(jù)光學(xué)部分的非球面頂點(diǎn)曲率中心與傾斜角度確定光學(xué)部分的頂點(diǎn)，最終根據(jù)第一光學(xué)部分的軸線與第二光學(xué)部分的頂點(diǎn)確定待測鏡片的面間偏心距離。
該測量方法和測量系統(tǒng)能夠同時(shí)測量待測鏡片第一高度與第二高度，進(jìn)而得到光學(xué)部分的傾斜角度，不需要在測量過程中翻轉(zhuǎn)待測鏡片，更便于獲得待測鏡片的面間偏心距離。該方法能夠提高測量的效率，避免了翻轉(zhuǎn)待測鏡片可能導(dǎo)致的影響測量精度的問題。
