時(shí)間交錯(cuò)技術(shù)可使用多個(gè)相同的 ADC(文中雖然僅討論了 ADC,但所有原理同樣適用于 DAC 的時(shí)間交錯(cuò)特性),并以比每一個(gè)單獨(dú)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來(lái)處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡(jiǎn)單說(shuō)來(lái),時(shí)間交錯(cuò)(IL)由時(shí)間多路復(fù)用 M 個(gè)相同的 ADC 并聯(lián)陣列組成。
如圖 1 所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率 fs(采樣周期 Ts = 1/fs),哪怕陣列中的每一個(gè) ADC 實(shí)際上以較低的速率進(jìn)行采樣(和轉(zhuǎn)換),即 fs/M。因此,舉例而言,通過(guò)交錯(cuò)四個(gè) 10 位/100 MSPS ADC,理論上可以實(shí)現(xiàn) 10 位/400 MSPS ADC。
